PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  SBN
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Technika elipsometrii spektroskopowej jako metoda monitorowania jakości powierzchni materiałów grupy SrxBa1-xNb2O6
Dorywalski K., Patryn A.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2014
|
R. 90, nr 9
22-25
PL
W artykule przedstawiono możliwość zastosowania techniki elipsometrii spektroskopowej do szybkiego i nieinwazyjnego monitorowania jakości powierzchni fotorefrakcyjnych kryształów SrxBa1-xNb2O6. Przedstawiono model optyczny materiału z chropowatą warstwą powierzchniową, który umożliwia precyzyjne wyznaczenie wielkości nierówności powierzchni w procesie dopasowania symulowanych krzywych teoretycznych oraz eksperymentalnych funkcji optycznych. Otrzymane wielkości stopnia chropowatości przy pomocy techniki elipsometrii zbliżone są do odpowiednich uzyskanych techniką mikroskopii sił atomowych.
EN
The article presents the capabilities of spectroscopic ellipsometry as a fast and nondestructive tool for monitoring of surface quality of photorefractive SrxBa1-xNb2O6 crystals. Optical model with surface roughness layer is shown which allows to determine precisly the values of surface roughness in the fitting procedure of modeled and experimental optical functions. The obtained surface roughness quantities by spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy are in good agreement.
2
Content available remote Synchrotron-based VUV spectroscopic ellipsometry system in application to optical properties studies of wide-bandgap materials for optoelectronics
Dorywalski K., Patryn A., Andriyevsky B., Cobet C., Esser N.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2014
|
R. 90, nr 3
243--246
EN
The paper presents the implementation of spectroscopic ellipsometry measurements in the vacuum-ultraviolet spectral range with use of synchrotron radiation as a light source. Current status of VUV ellipsometer and the principle of its operation is described. The procedure of measurements and ellipsometric data evaluation taking into account surface roughness of the measured specimen of optically uniaxial widebandgap single crystal is presented through the example of Sr61Ba39Nb2O6 ellipsometric characterization. Complex dielectric function ε(E) = ε1(E) + iε2(E) for Sr61Ba39Nb2O6 was obtained in the spectral photon energy range 2–25 eV for polarization direction along b and c crystallographic axes.
PL
W artykule przedstawiono implementację techniki spektroskopii elipsometrycznej z wykorzystaniem promieniowania synchrotronowego jako źródła światła do zakresu widmowego nadfioletu próżniowego. Zaprezentowano obecny status VUV systemu elipsometrycznego oraz opisano sposób jego funkcjonowania. Poprzez charakteryzację optyczną kryształu Sr61Ba39Nb2O6, przedstawiono procedurę analizy elipsometrycznych danych pomiarowych dla optycznie jednoosiowego monokryształu z uwzględnieniem anizotropii optycznej oraz niejednorodności powierzchni badanej próbki. Uzyskano zależności dyspersyjne tensora zespolonej przenikalności dielektrycznej ε(E) = ε1(E) + iε2(E) dla kryształu Sr61Ba39Nb2O6 w szerokim zakresie widmowych 2–25 eV, dla kierunków wzdłuż osi krystalograficznych b oraz c.
3
Content available Przygotowania obronne państwa w systemie bezpieczeństwa narodowego : wybrane problemy
Kuliczkowski Marian
Wiedza Obronna
|
2012
|
nr 2
42--79
4
Content available remote Otrzymywanie ceramiki Sr0,7Ba0,3Nb2O6 o ukierunkowanej mikrostrukturze metodą prasowania na gorąco
Nogas-Ćwikiel E.
Materiały Ceramiczne
|
2012
|
T. 64, nr 1
98-102
PL
W ramach niniejszej pracy otrzymano ceramikę o ukierunkowanej mikrostrukturze do zastosowań w elektronice. We wprowadzeniu przedstawiono główne obszary zastosowań piezoelektrycznych i piroelektrycznych materiałów ceramicznych. Większość produkowanych na skalę przemysłową materiałów piezoceramicznych powstaje na bazie roztworów stałych Pb(Zr1-xTix)O3 (PZT). Ceramika typu PZT w fazie paraelektrycznej, w której powstaje podczas spiekania, posiada strukturę regularną, co nie sprzyja powstawaniu tekstury. Teksturę można uzyskać w przypadku materiałów, w których mikrostrukturze ziarna rosną anizotropowo. Jedną z grupmateriałów o innej niż regularna komórce elementarnej stanowią materiały o strukturze typu tetragonalnego brązu wolframowego (TBW). Niobian baru strontu SrxBa1-xNb2O6 (SBN) w zakresie 0,25 < x < 0,75 jest ferroelektrykiem o strukturze typu tetragonalnego brązu wolframowego. W niniejszej pracy do otrzymania ceramiki Sr0,7Ba0,3Nb2O6 (SBN70) o ukierunkowanej mikrostrukturze zastosowano metodę prasowania na gorąco. Użyto proszków ceramicznych syntezowanych metodą zol-żelową. Ceramika SBN70 o ukierunkowanej mikrostrukturze może być zastosowana do budowy przetworników piezoelektrycznych i piroelektrycznych.
EN
Ceramics with the oriented microstructure were obtained for electronic applications. Main application areas of piezoelectric and pyroelectric ceramic materials were firstly reviewed. Majority of piezoelectric materials produced industrially are based on Pb(Zr1-xTix)O3 solid solutions (PZT). The PZT ceramics composed of the paraelectric phase formed during sintering have the cubic structure, which does not favour the formation of texture. The texture can be obtained in the case of the materials showing anisotropic grain growth. Materials with the structure of tetragonal tungsten bronze (TBW) create the group of materials with elementary cells another than the cubic one. Barium strontium niobate SrxBa1-xNb2O6 (SBN) is a ferroelectric material of the TBW structure in the range of 0.25 < x < 0.75. In this work, hot pressing was applied to manufacture the Sr0,7Ba0,3Nb2O6 ceramics (SBN70), showing the oriented microstructure. Powders were synthesized by the sol-gel method. The SBN70 ceramics with the oriented microstructure can be used in designing piezoelectric and piroelectric transducers.
5
Content available remote Otrzymywanie metodą zolowo-żelową Sr(0,7)Ba(0,3)Nb2O6 do kompozytów o ukierunkowanej strukturze
Nogas-Ćwikiel E.
Materiały Ceramiczne
|
2010
|
T. 62, nr 1
70-73
PL
Niobian baru strontu SrxBa1-xNb2O6 (SBN) w zakresie 0,25
EN
Strontium barium niobate SrxBa1-xNb2O6 (SBN) in the range of 0.25
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.