Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Wyzwania technologii ogniw fotowoltaicznych opartych na związkach organicznych

Sitek J., Kościelski M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2015

|

Vol. 56, nr 11

59-63

PL

W artykule ukazano zagadnienia związane z tematyką ogniw fotowoltaicznych. Ukazano krótko ich historię i techniki wytwarzania. Następnie skupiono się na wyzwaniach i problemach towarzyszących technologii wytwarzania ogniw fotowoltaicznych opartych na związkach organicznych, które zilustrowano danymi literaturowymi oraz wynikami badań ogniw OPV wytworzonych w ITR. W podsumowaniu zaprezentowano możliwe kierunki ich dalszego rozwoju oraz obszary, które wymagają dalszych badań.

EN

The article shows the issue related with the topic of photovoltaic cells. Briefly was shown their history and manufacturing techniques. Then the challenges and problems associated with the production technology of photovoltaic cells based on organic compounds was shown, which were illustrated by data from the literature as well as results for the OPV cells manufactured at ITR. In the summary were presented possible directions of further OPV development and areas that require further research.

2

Technologiczny postęp w fotowoltaice

Klugmann-Radziemska E.

Czysta Energia

|

2014

|

Nr 5

40--42

3

Porównanie pomiarów chropowatości tlenku indowo-cynowego (ITO) mikroskopem sił atomowych i profilometrem optycznym

Janeczek K., Araźna A., Futera K., Kozioł G., Stęplewski W., Lipiec K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 4

84-86

PL

Warstwa tlenku indowo-cynowego (ITO) naniesiona na podłoże giętkie lub sztywne znajduje obecnie zastosowanie do wytwarzania organicznych diod elektroluminescencyjnych (OLED) lub organicznych ogniw fotowoltaicznych (OPV). Zazwyczaj przed nałożeniem warstw funkcjonalnych wykonywanej struktury, ITO jest poddawane czyszczeniu. W artykule opisano wyniki badań chropowatości warstwy ITO metodą mikroskopii sił atomowych i profilometrii optycznej. Badane próbki przed pomiarami poddano czyszczeniu alkalicznemu lub czyszczeniu w acetonie i alkoholu etylowym lub alkoholu izopropylowym. Niezależnie od zastosowanej techniki pomiarowej wszystkie metody przygotowania powierzchni ITO powodowały wzrost jej chropowatości w stosunku do próbki w stanie dostawy. Stwierdzono również, że wartości chropowatości zmierzonej profilometrem optycznym były wyższe niż uzyskane mikroskopem sił atomowych.

EN

Indium tin oxide (ITO) layers evaporated on elastic or rigid substrates are currently used for manufacturing organic light-emitting diodes (OLED) or organie photovoltaic cells (OPV). Before functional layers of a fabricated device are deposited on ITO substrate its surface is usually cleaned. In this paper, the results of ITO layer roughness measurements by atomic force microscopy and optical profiler are reported. The specimens were treated with alkaline cleaning or ultrasonic degreasing in acetone and ethyl or isopropyl alcohol. Irrespective of measurement technigue all treatment methods lead to increase of ITO surface roughness when compared to the untreated sample. It was affirmed that the values of ITO roughness measured with optical profilometry were higher than measured with atomic force microscopy.