Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: ICs

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badania odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne impulsowe

Kołodziejski J., Daniluk T., Szermer M., Szczęsny J.

Przegląd Elektrotechniczny

2007

R. 83, nr 9

18-20

W pracy opisano metody badań odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne, a zwłaszcza zaburzenia impulsowe. Szczególną uwagę poświęcono generacji odpowiednich sygnałów testowych oraz sposobom ich sprzęgania z badanym układem.

In the work the methods of testing integrated circuits immunity to electromagnetic disturbances, and especially pulse disturbances, are described. Particular attention was paid to the generation of relevant test signals and coupling of these signals with the tested circuits.

Projektowanie i symulacja układów elektronicznych

Kołodziejski J. F.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2006

Vol. 47, nr 12

49-56

Dokonano przeglądu różnych produktów oprogramowania, stanowiących narzędzie do symulacji przyrządów półprzewodnikowych, a zwłaszcza układów scalonych, na etapie ich projektowania. W przeglądzie uwzględniono także języki opisu sprzętu. Szczególną uwagę zwrócono na symulatory pola elektromagnetycznego, będące obecnie przedmiotem intensywnych prac rozwojowych.

A review of some software products seting the tool for simulation of semiconductor devices and especially integrated circuits is performed in the work. The hardware description languages are also considered. Special attention is given to some electromagnetic simulators, which are currently the object of intensive research works.