Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: Application Specific Integrated Circuit (ASIC)

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Cyfrowy synchroniczny układ ASIC, jako detektor promieniowania neutronowego

Romiński A., Makowski D., Napieralski A.

Pomiary Automatyka Kontrola

2010

R. 56, nr 7

652-655

Artykuł przedstawia projekt selektywnego detektora promieniowania neutronowego, zbudowanego z wykorzystaniem układu cyfrowego wrażliwego na odwracalne błędy pojedyncze SEU (ang. Single Event Upset). Dla zwiększenia wrażliwości struktury rejestru na występowanie odwracalnych błędów SEU opracowano szereg metod, zaprezentowanych w artykule. Przedstawiono też symulacje określające warunki poprawnej pracy oraz parametry układu, które zgodnie z zapewnieniem dostawcy technologii powinien spełniać.

The paper deals with neutron radiation detector design. The neutron detector was designed with application of sensitive to reversible Single Event Upsets (SEUs) digital circuit. The detector bases on a modified shift register (see Fig. 3), using dual supply voltage.. The paper presents a number of methods that were developed to enhance sensitivity of the detector to reversible SEUs. There are discussed physical phenomena that influence the technological fabrication process and topology of the integrated circuit. There are given some exemplary parameters of the designed register (input capacitance, clock-to-output delay) for the internal flip-flops, the pre-layout, as well as the post-layout (with extracted parasitic components) simulations, with visible (e.g. approx. 2-3 times) difference between the ideal (pre-layout) and real (post-layout) design. The simulation tests and the final layout (see Fig. 4) were prepared using CADENCE IC environment in 6.1.4 version, as a process design kit for chosen ITE CMOS technology. The general research background and realisation perspective (selected foundry run) are shown in the conclusion paragraph. Also the perspectives for a future testbench circuit in real and factual radiation environment are briefly described.