PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Przegląd metodologii związanej z wielokątowym charakteryzowaniem wzorców widmowego współczynnika odbicia
Skrzetuszewski Maciej, Górnik Sylwia, Zajkowski Maciej
Przegląd Elektrotechniczny
|
2024
|
R. 100, nr 3
257--261
PL
Artykuł opisuje ogólne metody wzorcowania spektrofotometrów odbiciowych i kolorymetrów trójchromatycznych wzorcowanych w Głównym Urzędzie Miar w Zakładzie Elektryczności i Promieniowania. Zaprezentowano podstawowe wzory obliczeniowe mające zastosowanie w kolorymetrii odbiciowej. Przedstawiono stanowiska pomiarowe umożliwiające wyznaczenie dwukierunkowej funkcji rozkładu odbicia (BRDF) oraz stanowisko pomiarowe związane z wielokątowym charakteryzowaniem wzorców widmowego współczynnika odbicia.
EN
his paper describes the general rules of calibration procedure for reflectance spectrophotomers and trichromatic colorimeters used at the Central Office of Measures in the Electricity and Radiation Department. Basic calculation formulas applicable in reflectance colorimetry are presented. The paper presents a measuring stands which has been used to determine BRDF and the measurement stand related to multi-angled characterization of the spectral reflectance standards.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.