Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2 2008

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Koncepcja jednoatomowego czujnika pola elektrycznego typu FM

Szawioła G., Buczek A., Koczorowski W., Kucharski D., Mazerewicz P., Walaszyk A., Stachowska E.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 6

149-151

Pomiary częstotliwości należą do najbardziej dokładnych we współczesnej metrologii. W niniejszym opracowaniu szkicowana jest koncepcja mikroskopii sił atomowych wykorzystujących pomiar częstotliwości. Propozycja bazuje na efekcie swego rodzaju modulacji częstotliwości (FM) składowych harmonicznych drgań jonów uwięzionych w pułapkach planarnych, powodowanej zaburzeniem elektromagnetycznego pola pułapkującego. Ponadto zastosowanie jako czujników pojedynczych jonów, skaluje rozmiar tego czujnika do rozmiarów obiektu badanego.

Frequency measurement is one of the most precise modern metrology methods. Our proposal for an atomic force microscope using frequency measurements is based on modulation (FM) of the harmonic oscillations of trapped ions in a planar trap, caused by perturbation of the confining electric field. The application of single ions allows scaling down the sensor to study an atomic sized object.

Demonstracja modelu jednoatomowego sensora pola elektrycznego typu AM

Szawioła G., Buczek A., Koczorowski W., Kucharski D., Mazerewicz P., Walaszyk A., Stachowska E.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 5

23-25

Istniejące mikroskopy sił atomowych operują sensorami-igłami, których pełna kwantowa kontrola utrudniona jest przez ich wieloatomową strukturę. W celu zrównania skali sensora sił do rozmiarów badanego obiektu, proponuje się w niniejszej pracy zastosowanie jonów uwięzionych w planarnej pułapce Paula jako sensora sił elektrycznych w nanoskali. Zasada działania takiego sensora bazuje na efekcie modulacji amplitudy (AM) składowych harmonicznych drgań jonów, wywołanej zaburzeniami pola elektrycznego w bliskim sąsiedztwie uwięzionych naładowanych cząstek. Koncepcja sensora jest demonstrowana na makroskopowym modelu pułapki jonowej.

Present atomic force microscopes operate with a needle sensor, which full quantum control is hindered by their multiatomic structure. To scale down the sensor to an atomic sized object we propose in this report to use ions confined in planar trap to be applied as a nanoscale electric force sensor. With the use of a macroscopic model we tested the conception of such a sensor based on a kind of amplitude modulation (AM), caused by perturbation of the electric field in the vicinity of trapped charged particles, of their harmonic oscillations.