Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Visibility and simple optical diagnostics possibilities of graphene layers on dielectric and semiconductor substrates at the Brewster angle are analyzed. The analysis is based on a numerical simulation. Several oxide semiconductors (ITO, ZnO, TiO2), weakly absorbing Si, and strongly absorbing GaAs are considered. It is shown that at the Brewster angle the optical contrast of graphene flakes on a bare semiconductor substrate is actually strong enough to see them under an optical microscope and there is really no need to create an additional interference film on the substrate.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.