Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Archives of Metallurgy and Materials

2 2005

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Internal Stress and Stored Energy in Recrystallized Polycrystalline Copper

Wierzbanowski K., Baczmański A., Wawszczak R., Tarasiuk J., Gerber P. H., Bacroix B., Lodini A.

Archives of Metallurgy and Materials

2005

Vol. 50, iss. 1

201-208

The multi-reflection X-ray method was used to determine the stress level in deformed and recrystallized polycrystalline copper samples. The anisotropic diraction elastic constants were calculated using the self- consistent model and crystallographic texture. A significant decrease of the first order residual stresses was observed during recrystallization, but they start to decrease already during recovery. Diraction peak widths and intensities were also examined. A complementary study, using synchrotron radiation and electron back scattering diraction techniques, was done in order to determine the stored energy in the examined material. This latter is strongly orientation dependent and has the lowest value in the cubic orientation, which is dominating one in recrystalization texture.

Użyto rentgenowskiej metody wielo-odbiciowej w celu wyznaczenia naprężeń wewnętrznych w odkształconej i wyżarzonej rekrystalizująco polikrystalicznej miedzi. Anizotropowe dyfrakcyjne stałe spreżyste wyliczono stosując model samo-uzgodniony oraz funkcje tekstury. Zaobserwowano wyraźne zmniejszenie naprężeń wewnetrznych podczas rekrystalizacji, chociaż efekt ten rozpoczyna się już podczas zdrowienia. Zbadano również szerokość oraz intensywność pików dyfrakcyjnych. Przeprowadzono dodatkowe badania przy użyciu dyfrakcji promieniowania synchrotronowego oraz dyfrakcji elektronów rozproszonych wstecznie w celu wyznaczenia energii zgromadzonej w odkształconym materiale. Zależy ona silnie od orientacji krystalograficznej i ma najmniejszą wartość dla orientacji sześciennej, która jest dominujacą składową tekstury rekrystalizacji.

Estimation of the recrystallized volume fraction from local misorientation calculations

Gerber P. H., Tarasiuk J., Chiron R., Bacroix B.

Archives of Metallurgy and Materials

2005

Vol. 50, iss. 3

747-755

It’s well known that density of defects and dislocations in the material have strong influence on material properties. The most important technological process reducing the density of dislocations is recrystallization. Material properties are depending on ratio between recrystallized and not-recrystallized parts. This paper describes a fast and precise method for the determination of the recrystallized volume fraction. The new method use Electron Back Scattered Diffraction measurements. The EBSD technique gives a lot of information about topology of grains, crystallographic orientation of measured points in the material and even estimated density of dislocation may be deduced from the image quality factor. The calculation in the new methods uses information about the local misorientation between measured points int the sample. Calculated misorientation is used as an estimator of the recrystallized volume fraction. The method is applied to polycrystalline copper and &Alpha-brass. The results are compared with Vickers microhardness measurements and with the analysis of the quality index distribution. The presented method is very simple to use and computer implementation is easy too. The method may be applied to old EBSD data previously measured with no intention to determine recrystallized volume fraction. Some limitations of the method were also discussed in th paper.

Wiele własności różnych materiałów, w szczegółności metali, zależy od znajdujących się w nich defektów i gęstości dyslokacji. Jednym z najważniejszych procesów technologicznych prowadzących do zmniejszenia gęstosci dyslokacji jest rekrystalizacji. Własności materiału bezpośrednio zależą od stosunku objętości zrekrystalizowanej w materiale do tej, która jeszcze rekrystalizacji nie uległa. W niniejszej publikacji zaprezentowano nową, szybką i precyzyjną metodę wyznaczania zrekrystalizowanej frakcji (objętości) w próbce. Metodę oparto na wykorzystaniu danych pomiarowych uzyskanych techniką dyfrakcji wstecznie rozpraszanych elektronów (EBSD). Technika EBSD pozwala uzyskać wiele informacji na temat topologii ziaren, orientacji krystalograficznej zmierzonych punktów a nawet pozwala oszacować gęstość dyslokacji na podstawie wskaźnika jakości obrazu mierzonych punktów. Prezentowana metoda bazuje na wyznaczaniu różnic w orientacjach sąsiednich punktów pomiarowych. Na podstawie obliczonego rozkładu różnic orientacji wyznacza się oszacowanie wielkości frakcji zrekrystalizowanej. W publikacji zaprezentowano przykłady użycia metody do próbek miedzianych i mosiężnych. Wyniki zostały porównane z wielkością frakcji zrekrystalizowanej uzyskana innymi metodami, w tym metoda mikrotwardości Vickersa. Zaprezentowana metoda jest bardzo prosta w użyciu i łatwa w implementacji komputerowej. Metoda może byc również zastosowana do starych danych pomiarowych, które nie były wykonywane z myślą o ocenie stopnia zrekrystalizowania materiału. Na zakonczenie pracy przedyskutowano warunki stosowalności i ograniczenia metody.