Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Techniki wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody testów krokowych

Sokół B.

Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka

|

2008

|

Z. 3

129-144

PL

Publikacja zawiera opis wybranych metod i technik wykrywania uszkodzeń pamięci z wykorzystaniem stopni swobody transparentnych testów krokowych. Główna uwaga została skupiona na uszkodzeniach uwarunkowanych zawartością typu Pattern Sensitive Faults (PSF) jako najtrudniejszych do wykrycia. Zaproponowane wykorzystanie stopni swobody testów krokowych przejawia się możliwością efektywnego przeprowadzenia transparentnego testowania i wykrywania uszkodzeń typu PSF przez proste testy krokowe i bazuje na możliwści wielokrotnego uruchomienia testu przy zmianach warunków początkowych (porządku adresowania) dla każdego uruchomienia. Wykorzystane i zaproponowane metody umożliwiają generowanie pełnych sekwencji adresowych oraz pozwalają na optymalny wybór adresów startowych przy wielokrotnym uruchomieniu testów krokowych. W pierwszej części pracy przedstawiona została problematyka testowania pamięci oraz stopnie swobody testów krokowych. Druga część pracy zawiera opis zaproponowanych rozwiązań wraz z wynikami wybranych eksperymentów.

EN

Publication shows the description of selected methods and techniques for memory faults detection with use of degrees of freedom inherent to transparent March tests. This paper deals with Pattern Sensitive Faults (PSF) as the most difficult to detect. Proposed techniques of use of degrees of freedom in March testing manifest itself in effective transparent memory testing and PSF faults detection with use of simple March tests, based on the possibility of multiple run of test with different initial conditions like address order for each run. Proposed methods allow us to choose in an optimal way starting addresses for multiple March tests run. In the first part of this publication, memory testing problems, testing principles and degrees of freedom were presented. Second part of this publication shows the description of proposed solutions with selected results.

2

MPS(3N) transparent memory test for Pattern Sensitive Fault detection

Mrozek I., Busłowska E., Sokół B.

Metody Informatyki Stosowanej

|

2008

|

nr 4 (Tom 17)

129--138

EN

Conventional memory tests based on only one run have constant and low faults coverage especially for Pattern Sensitive Faults (PSF). To increase faults coverage the multiple run March test algorithms have been used. As have been shown earlier the key element of multiple run March test algorithms are memory backgrounds. Only in a case of optimal set of backgrounds the high fault coverage can be achieved. For such optimal backgrounds the analytical calculation of NPSFk fault coverage for 3 and 4 runs of MPS(3N) test in this paper is presented. All of the analytical calculations are confirmed and validated by adequate experiments.

3

Optymalne adresowanie pamięci przy wykorzystaniu usterek uwarunkowanych zawartością (PSF)

Sokół B., Yarmolik S.V.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2006

|

R. 52, nr 6 bis

41-43

PL

Celem niniejszej publikacji jest zaprezentowanie nowych algorytmów i technik testowania pamięci bazując na transparentnych testach pamięci. Niniejsza publikacja dotyczy problemu wykrywania usterek pamięci uwarunkowanych zawartością (ang. pattern sensitive faults - PSF). Zawarte w pracy informacje pokazują efektywność użycia testów krokowych przy wykrywaniu pasywnych usterek PSF (passive pattern sensitive faults PPSF). Zbadano efektywność wielokrotnego użycia testów krokowych do wykrywania wyżej wymienionych usterek PPSF oraz przeanalizowano optymalny wybór adresu startowego.

EN

The goal of this paper is to propose new algorithms and techniques for memory testing based on transparent memory tests. This paper deals with memory pattern sensitive faults detection problem. It shows the efficiency of using march tests for detection memory passive pattern sensitive faults. Also it shows the efficiency of multiple runs of march tests for detection PPSF's and analyzes the optimal address seeds.