Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 9

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy przedstawiono analizę wpływu właściwości spektralnych toru optycznego spektroradiometru (tj. układu siatka dyfrakcyjna, detektor CCD) na dokładność pomiarów rozkładów egzytancji widmowych współczesnych źródeł światła. Analizie zostały poddane układy elektrooptyczne spektroradiometrów zbudowane z różnych kombinacji siatek dyfrakcyjnych i detektorów.
EN
The paper presents an analysis of the impact of spectral properties of spectroradiometer electro-optical bench (ie. diffraction grating, CCD detector) on the measurement accuracy of spectral power distribution of light sources. Analysis were performed for electro-optical spectroradiometric systems which were built on different combinations of diffraction gratings and detektors.
PL
W pracy zaprezentowano model LED-owej oprawy oświetleniowej. Charakteryzuje się ona, niezależną od warunków środowiskowych, stałą wartością emitowanego strumienia świetlnego. Ta właściwość oprawy jest uzyskana dzięki użyciu odpowiedniej metody sterowania zasilaniem poszczególnych barwnych LED-ów wchodzących w skład tej oprawy oświetleniowej.
EN
The paper presents a model of those LEDs based luminaries. It emitted constant luminous flux is independent of environmental conditions. This is done by using an appropriate method for power control of individual LEDs which are used in those luminaries.
PL
W artykule przedstawiono różne rozwiązania konstrukcji głowicy fotometrycznej luksomierza. Wykazano istnienie wpływu rodzaju tej konstrukcji, na jakość korekcji uchybu spowodowanego skośnym padaniem światła na jego głowicę pomiarową. Przedstawiono model matematyczny elementu w optymalny sposób korygującego ten uchyb. Zaprezentowana metoda, projektowania głowicy fotometrycznej luksomierza, pozwala uzyskać głowicę skorygowaną w sposób optymalny pod względem przestrzennym oraz widmowym.
EN
The article presents various designs of photometric head of luxmeters. It also showed the influence of designing parameters of luxmenter on quality of its correction. The mathematical model of this correction element is shown also.
PL
Budowane obecnie spektroradiometry, nie charakteryzują się stałą wartością czułości widmowej, w całym zakresie długości fal, w jakim pracują. Ten stan rzeczy, prowadzi do powstawania uchybów pomiarowych, o wartości zależnej od mierzonego przedziału widmowego. Niniejszy artykuł przedstawia model spektroradiometru, charakteryzującego się, niezależną od długości fali, wartością czułości widmowej. Zaproponowana metoda projektowani części optycznej spektroradiometru, umożliwia obliczenie takiej fazowej, odbiciowej siatki dyfrakcyjnej tego przyrządu, która uniezależnia czułość spektroradiometru od mierzonej długości fali promieniowania, a tym samym eliminuje uchyb pomiarowy związany ze zmianą czułości widmowej przyrządu w funkcji długości fali mierzonego promieniowania.
EN
The paper presents a model of the spectroradiometer which has constant spectral sensitivity over range of its measurement wavelength. Spektroradiometers which are right now, on the market, are not having constant spectral sensitivity, over a range of wavelengths, in which they are working. This is a source of their measurement errors. This article presents the possibility of constructing the spectroradiometer with constant spectral sensitivity.
PL
W pracy przedstawiono metodę optymalizacyjną umożliwiającą zaprojektowanie siatki dyfrakcyjne spektroradiometruj, która przy współpracy z detektorem tegoż spektroradiometru zapewni, że charakterystyka czułości widmowej całego będzie miała stałą optymalną wartość w całym zakresie pomiarowym.
EN
The method described in this paper, enables spectral optimization of the spectroradiometer system sensitivity (the diffraction grating and the detector). By using this optimization method the spectral characteristics of spectroradiometer will have a constant value in the range of processed wavelength.
6
Content available remote Kaizen - japoński system zarządzania jakością
PL
W opracowaniu przedstawiono KAIZEN - japońską filozofię zarządzania określającą ciągłe doskonalenie się na każdym poziomie organizacji. Odkąd w latach 50. Japonia została mocarstwem jakości, KAIZEN stał się jednym z najbardziej popularnych systemów zarządzania jakością na świecie.
EN
The work presents KAIZEN - Japanese management philosophy describing continuous improvement at each organizational level. Since 50's when Japan gained the reputation of the quality empire, KAIZEN has became one of the most popular quality management systems in the world.
7
Content available remote Jakościowe spojrzenie na zarządzanie procesowe w nowoczesnej organizacji
PL
Odkąd jakość produktów i usług ma ogromny wpływ na sukces i pozycję konkurencyjną organizacji na rynku międzynarodowym, przedsiębiorstwa na całym świecie decydują się na implementację systemów zarządzania jakością. Najbardziej efektywnymi i popularnymi rozwiązaniami w tym obszarze są takie systemy, jak TQM, Lean Manufacturing, SMED, Six Sigma, TPM and 5 S.
EN
Since quality of products and services has had a great influence on success and competitive position of organization in the international market, companies all over the world have decided on implementation of quality management systems. The most effective and popular solutions in that field are such systems as TQM, Lean Manufacturing, SMED, Six Sigma, TPM and 5 S.
8
Content available remote Badania kolorymetryczne monitorów ekranowych
PL
W pracy przedstawione zostały wyniki pomiarów kolorymetrycznych monitorów ekranowych typu CRT oraz LCD.
EN
In the paper results of colorimetric measurements of the CRT- type and LCD - type computer VDU units are presented.
PL
W niniejszej pracy zaprezentowano algorytm obliczania rozkładu natężenia oświetlenia na danej powierzchni ograniczającej obszar zamknięty. Umożliwia on określenie dokładności wyznaczonego rozkładu natężenia oświetlenia na danej powierzchni.
EN
This paper presents the algorithm of calculating the distribution of the illumination intensity over the given surface limiting a closed area. It enables the indication of the accurateness of the designated distribution of the illumination intensity over the given surface.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.