PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 11

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Phase Object Observation System Based on Diffraction Phase Microscopy
Babicz S., Stawarz-Graczyk B., Wierzba P.
Metrology and Measurement Systems
|
2018
|
Vol. 25, nr 1
213--221
EN
In the paper authors present a special measurement system for observing phase objects. The diffraction phas microscopy makes it possible to measure the dimensions of a tested object with a nanometre resolution. To meet this requirement, it is proposed to apply a spatial transform. The proposed setup can be based either on a two lenses system (called 4f) or a Wollaston prism. Both solutions with all construction aspects are described in the paper. To make a full analysis of the object shape the authors developed an accurate image processing algorithm, also presented in the paper.
2
Content available System monitoringu pomieszczeń zamkniętych oparty na zespole kamer internetowych
Orszulak U., Babicz S.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2017
|
Nr 57
77--80
PL
Artykuł opisuje system do monitoringu pomieszczeń zamkniętych oparty na zespole kamer internetowych. System umożliwia rejestrację obrazu za pomocą trzech kamer internetowych w momencie wykrycia ruchu i przekazuje w czasie rzeczywistym nagrany film użytkownikowi na dowolne urządzenie posiadające system Android. Dzięki takiemu rozwiązaniu można kontrolować dane pomieszczenie np. pokój dziecka, biuro czy też sklep. Umożliwia to podjęcie szybszej reakcji w z związku detekcją poruszającego się obiektu. System, po wykryciu ruchu w pomieszczeniu, rejestruje przez określony czas sekwencje obrazów. Poza opracowaniem odpowiedniego kodu analizującego obraz z kamery internetowej składa się z odpowiedniej infrastruktury sprzętowej oraz aplikacji przeznaczonej dla systemu Android.
EN
The article presents a monitoring system based on a set of webcams. The system allows to record the movie from three webcams at the moment of motion detection in real-time. User have an access to the movies by application on Android device. Three most popular edges detection algorithms were implemented and tested: Laplace’s processing, Sobel mask and Canny algorithm. Authors elaborated the three edge detection algorithms and tested their functionality in presence and absence of moving object in different natural lighting conditions – day and night. For each situation (day/night, presence/absence of movement) one thousand single tests were carried out. The detection was conducted every 66 ms. The tests prove that the Laplace's operator is the most effective edge algorithm for this task. A program based on the Laplce operator does not perform erroneous motion detection and its efficiency in the presence of a moving object is over 96%. The Canny algorithm would only apply in the day if it were to be used in the RGB. Worst of all, Sobel's operator, has so high sensitivity that it detects the movement almost all the time event if it not occurs.
3
Content available System automatyzacji przeprowadzania i oceniania sprawdzianów studenckich
Hirsz B., Babicz S.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2017
|
Nr 57
25--28
PL
Artykuł prezentuje system pozwalający na przeprowadzenie sprawdzianów studenckich w wersji papierowej oraz na komputerach. Kluczowym aspektem systemu jest moduł umożliwiający przeprowadzenie oraz sprawdzenie tradycyjnego testu, którego pytania będą losowane z utworzonej wcześniej bazy (lub kilku baz) pytań. Trzema głównymi zadaniami aplikacji są następująco: generacja i edycja testów oraz zapisywanie ich w bazie pytań, generowanie wersji testu (na podstawie stworzonej uprzednio bazy pytań) wraz z losowaniem kolejności pytań i odpowiedzi, pogląd statystyk indywidualnych oraz grupowych po ewaluacji danego testu. Program umożliwia również przeprowadzenie sprawdzianu na komputerze (poprzez stronę internetową) dzięki możliwości generowania quizów w formie odczytywalnej przez platformę Moodle. Aplikacja do odczytywania i ewaluacji sprawdzianów w wersji papierowej pozwala na odczyt danych studenta (numeru indeksu) oraz wypełnionych odpowiedzi i sprawdzenie ich poprawności na podstawie pobranego z serwera mapowania odpowiedniego dla danej wersji testu.
EN
The article presents a system for automatic carrying on students’ exams in paper version or on computers. The main aspect of the system is a module that enables performing a traditional paper test, where questions will be randomly chosen from a previously created XML database (or several bases). The three main tasks of the application are: generating and editing tests and saving them into base, generating test versions (based on previously created question base) with random questions and answers, viewing individual and group statistics after evaluation of a test. The test questions are printed on A4 paper. Student set the answers on other piece of paper in special form created by program. The smartphone application (for Android and iOS) enables automatic reading the answers and student index number. The functionality is provided by Otsu thresholding, edge detection and Tesseract algorithm (in case of index number detection). The answers are checked by mapping the test version. Detecting test version is realized by QR code. The program also allows conducting a quiz on computer (via the website) by the Moodle platform. The Moodle platform can use exactly the same questions and answers by importing them from program by special XML file.
4
Content available Anti-theft lab security system based on RFID
Mudlaff B., Babicz S., Smulko J.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2016
|
Nr 51
123--126
EN
The aim of the project is to design and create an electronic system, which can be used to protect laboratory equipment against theft. The main task of the system is to warn a person responsible for the facilities about any attempts made to steal equipment from a laboratory. In a case of an alarm situation, the system emits a sound signal (siren). The concept of the anti-theft security system based on RFID was developed on the basis of the analysis of the global market. Methods used to design each component of the system are described in detail, by presenting standards and electronic solutions applied in the developed hardware. Algorithms of the designed software embedded in each module and computer software are illustrated and explained. The method used to run and test the system is described.
PL
Tematem podejmowanym w pracy jest projekt systemu zabezpieczenia pomieszczeń laboratoryjnych przed kradzieżą. Na podstawie analizy rynku, opracowano koncepcję systemu alarmowego z zaimplementowaną techniką RFID. W sposób szczegółowy opisano metody realizacji poszczególnych modułów systemu. Omówiono algorytmy działania oprogramowania przeznaczonego na mikrokontrolery i komputery osobiste. Przedstawiono przebieg testów działania zrealizowanego sprzętu oraz sposób obsługi oprogramowania.
5
Content available Atomic force microscope data post-processing algorithm for higher harmonics imaging
Babicz S.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2013
|
Nr 34
9--12
EN
Previous works have proved that higher harmonics topography imaging using atomic force microscope (AFM) can significantly enhanced its measurement capabilities. Integrated tools dedicated to most of microscopes allow to visualize the investigated surface only by one selected harmonic. Because of the different characteristics of a sample, scanning tip and the environment, appropriate harmonic selection is time consuming and requires multiple scanning. In addition, repeated scanning guarantees no precise location of topographic formations, because the sample may be displaced. The author developed a system that allows simultaneous recording of the excitation signal, tips response signal from the photodiode and synchronization signal during typical surface scanning. The author presents an algorithm that allows higher harmonics surface imaging using these stored data.
PL
Dotychczasowe badania wykazuja, że obrazowanie topografii za pomoca mikroskopu sił atomowych (AFM, ang. Atomic Force Microscope) z wykorzystaniem wyższych harmonicznych moe znaczaco rozszerzyc jego możliwosci pomiarowe. Z uwagi na różne własciwosci próbki, igły skanujacej i srodowiska, w jakim jest przeprowadzany pomiar, dobór odpowiedniej harmonicznej jest czasochłonny i wymagałby wielokrotnego skanowania powierzchni. Autor opracował system umożliwiajacy jednoczesna rejestracje sygnału pobudzajacego wibrujaca igłe skanujaca, sygnału odpowiedzi igły z fotodiody oraz sygnału synchronizujacego. Na podstawie tego ostatniego, możliwe jest precyzyjne okreslenie momentu badania danego obszaru próbki. Wykorzystujac przedstawiony algorytm przetwarzania zarejestrowanych danych, autor obrazuje jednoczesnie powierzchnie badanej próbki za pomoca wyższych harmonicznych oraz za pomoca dedykowanego oprogramowania AFM.
6
Content available A measurement system for nonlinear surface spectroscopy with an atomic force microscope during corrosion process monitoring
Babicz S., Zieliński A., Smulko J., Darowicki K.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2013
|
R. 59, nr 4
287--291
EN
In addition to traditional imaging of the surface, atomic force microscopy (AFM) enables wide variety of additional measurements. One of them is higher harmonic imaging. In the tapping mode the nonlinear contact between a tip and specimen results in higher frequency vibrations. More information available from the higher harmonics analysis proves to be helpful for more detailed imaging. Such visualization is especially useful for heterogeneous surfaces which are studied to understand corrosion mechanisms. In this paper the measurement system for nonlinear surface spectroscopy by AFM for corrosion processes monitoring is presented.
PL
Oprócz tradycyjnego zastosowania, mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope, AFM) [1] (rys. 1) umożliwia wiele dodatkowych pomiarów, wśród których wyróżnić można obrazowanie powierzchni próbki wyższymi harmonicznymi [6-13]. W trybie półkontaktowym [2-4] w odpowiedzi mikrobelki zauważane są wyższe harmoniczne będące wynikiem oddziaływań nieliniowych [2-6]. Wykorzystanie wzmacniacza fazoczułego (ang.: lock-in amplifier) umożliwia obrazowanie topografii badanej próbki [12, 13] nawet do dwudziestej harmonicznej. Otrzymywane obrazy umożliwiają wyostrzenie elementów niewidocznych podczas tradycyjnego skanowania. Ma to związek z wyostrzoną czułością wyższych harmonicznych na struktury topograficzne. Takie obrazowanie jest szczególnie przydatne do badań próbek niejednorodnych [12], gdy łatwo wyróżnić przez obserwację poziom niektórych harmonicznych [6]. Oprócz wyraźnych zmian przy przejściach między różnymi substancjami, pomiary w cieczach wykazują się zwiększoną wrażliwością na lokalne różnice w elastyczności i interakcji geometrii [10]. Przedstawiono system do obrazowania powierzchni za pomocą wyższych harmonicznych w pomiarach ECAFM (ang. Electrochemical Atomic Force Microscopy, ECAFM, rys. 2). Prezentowane rozwiązanie (rys. 3, rys. 4) umożliwia jednoczesną rejestrację obrazów do szóstej harmonicznej podczas monitorowania procesów korozji (rys. 5, 6). Proponowany system pozwala na uzyskiwanie dodatkowych informacji o zjawiskach korozji zachodzących na skanowanych powierzchniach. Taka metoda stanowi uzupełnienie istniejących metod analizy powierzchni korozyjnych [14-16].
7
Content available Enhancing capabilities of Atomic Force Microscopy by tip motion harmonics analysis
Babicz S., Smulko J., Zieliński A.
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
|
2013
|
Vol. 61, nr 2
535--539
EN
Motion of a tip used in an atomic force microscope can be described by the Lennard-Jones potential, approximated by the van der Waals force in a long-range interaction. Here we present a general framework of approximation of the tip motion by adding three terms of Taylor series what results in non-zero harmonics in an output signal. We have worked out a measurement system which allows recording of an excitation tip signal and its non-linear response. The first studies of spectrum showed that presence of the second and the third harmonics in cantilever vibrations may be observed and used as a new method of the investigated samples characterization.
8
Content available Implementation of constant component filter in measurements of random telegraph signal noise
Szewczyk A., Babicz S., Dudziak A.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2012
|
Nr 31
127-130
EN
Noise is generated in all semiconductor devices. The intensity of these fluctuations depends on used elements, manufacturing process, operating conditions and device type. The result noise is a superposition of different kinds of fluctuations like thermal noise, generation-recombination noise, 1/f noise, shot noise and Random Telegraph Signal (RTS) noise. The last one, RTS noise is observed as nonstationary impulse fluctuations. Unfortunately, it is hard to notice and investigate the RTS because of DC component value in contradiction to small amplitude of noise impulses. In the paper a simple filtrating system which removes the DC component without AC signal distortion is presented. Example oscilloscope measurement results and their analysis are also shown.
PL
Szum jest generowany przez wszystkie urządzenia półprzewodnikowe. Szum wynikowy jest zwykle efektem superpozycji różnych rodzajów fluktuacji: szumu termicznego, szumu generacyjno-rekombinacyjnego, szumu 1/f i RTS. Ten ostatni, Random Telegraph Signal, jest obserwowany jako pojedyncze, niestacjonarne impulsy w badanym sygnale. Niestety, z powodu małej amplitudy oraz znacznej wartości składowej stałej, szum RTS jest bardzo trudny do obserwacji, co znacząco utrudnia jego badanie. W celu zwiększenia dokładności pomiaru, należy usunąć składową stałą z badanego sygnału. W artykule przedstawiono system odzyskujący składową stałą, a następnie odejmujący ją od sygnału wejściowego. W efekcie w sygnale wyjściowym otrzymuje się sygnał bez składowej stałej, w którym łatwiej jest zaobserwować i zbadać przebieg RTS.
9
Content available Simulation and measurements for the substance identification by AFM
Babicz S., Zieliński A.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2011
|
Nr 30
17-20
EN
Due to nanotechnology development, there is a strong pressure on research in nanoscale in various environments. An Atomic Force Microscope (AFM) allows to investigate topography of the sample and give some information about it’s chemical composition. During the last two decades, the number of possible applications of AFM increased considerably. The AFM investigates the forces between the applied tip and the sample atoms. These forces are described by Lennard-Jones function. The paper presents a theoretical framework that explains a use of the AFM and presents the recorded signals, applied for substance characterization. Moreover, the preliminary results of the quartz surface measurements are enclosed. The presented way of the collected data analysis shows how to get parameters of the Lennard-Jones function, characteristic for the investigated sample.
PL
W związku z rozwojem nanotechnologii, znacząco wzrosła potrzeba badań mikroskopijnych obiektów. Do takich celów służy mikroskop sił atomowych (AFM), który umożliwia badania topografii próbki oraz dostarcza informacji o jej składzie chemicznym. W ciągu ostatnich dwóch dekad liczba możliwych zastosowań AFM znacznie wzrosła. Mikroskop AFM bada siły oddziałujące między atomami igły skanującej a powierzchnią próbki. Siły te opisuje funkcja Lennard-Jonesa. W pracy przedstawiono teoretyczne podstawy działania mikroskopu sił atomowych oraz rejestrowane sygnały, służące do identyfikacji badanej substancji. Przykładowe badania wykonano na próbce kwarcu. Przyjęty sposób analizy danych pokazuje, jak uzyskać parametry funkcji Lennard-Jonesa, charakterystycznych dla badanej próbki.
10
Content available The study of harmonic imaging by AFM
Babicz S.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2011
|
R. 57, nr 12
1508-1510
EN
Atomic Force Microscopy (AFM) is a powerful tool for the analysis of surface samples with accuracy of single atoms. The existing methods include surface roughness, porosity and hardness of the test portion of the sample. The article presents the preliminary studyof a new AFM method of surface analysis. The study indicates that there may be a correlation between intensity of a harmonic resonance frequency of the needle and the system response. The suggested correlation can characterize elasticity of the analyzed surface.
PL
Mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope - AFM) został wynaleziony w 1986 roku [1] jako alternatywa dla skaningowego mikroskopu tunelowego (ang. Scanning Tunneling Microscope - STM), którego nie można użyć do badań nad materiałami nieprzewodzącymi. AFM umożliwia pomiary materiałów zanurzonych w cieczach, co pozwala badać żywe preparaty biologiczne w warunkach zbliżonych do ich naturalnego środowiska [2]. W artykule przedstawiono zasadę pracy mikroskopu (rys. 1) oddziaływującego siłami van der Waalsa (opisanymi funkcją Lennarda - Jonesa) między ostrzem skanującym a próbką (1) (rys. 2) [3]. Opisano trzy podstawowe tryby pracy mikroskopu: kontaktowy, przerywany [4-6] oraz bezkontaktowy (2). Opierając się na dotychczasowych badaniach [7] wyznaczających różne właściwości materiału w zależności od ich budowy (rys. 3, rys. 4) przebadano próbkę warystora (rys. 5) pod kątem obecności i poziomu kolejnych harmonicznych pobudzającej częstotliwości rezonansowej w odpowiedzi układu. Przeprowadzone pomiary wskazują, że może istnieć związek między intensywnością kolejnych harmonicznych, a właściwościami badanej powierzchni.
11
Content available Bezprzewodowa sieć sterująca urządzeniami domowymi w standardzie ZigBee
Babicz S., Smulko J.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2010
|
Nr 28
31-34
PL
W pracy scharakteryzowano właściwości standardu ZigBee. Przedstawiono także inne, konkurencyjne technologie w zakresie budowy systemów bezprzewodowych sieci sensorowych oraz opisano dostępne na rynku, gotowe rozwiązania sieci sterujących urządzeniami domowymi i przemysłowymi. Przybliżono przykłady zastosowania sieci w standardzie ZigBee do zarządzania przepływem energii elektrycznej. Następnie opisano realizację sieci bezprzewodowej w standardzie ZigBee z wykorzystaniem modułów MeshBean2 firmy MeshNetics. Sieć składa się z węzła centralnego, zwanego koordynatorem, podłączonego do komputera oraz trzech węzłów końcowych rejestrujących dane środowiskowe. Przedstawiono szczegóły dotyczące oprogramowania realizującego zadanie pobierania i wysyłania danych w sieci. Opisano najistotniejsze problemy techniczne, jakie pojawiają się przy realizacji tej sieci.
EN
Idea of a wireless ZigBee sensor network has been presented. The network nodes comprise MeshBean2 modules produce by Meshnetics company. The network includes a main node, called coordinator and linked by USB interface directly to the laptop or personal computer. This computer collects and processes data from all the network nodes by applying the prepared software. The details of the prepared software functionality (carrying out, accessing and sending data) are enclosed. Various industrial systems based on ZigBee standard has been presented as well.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.