Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Epstein to SST relationship - statistical rather than deterministic

Sievert J., Ahlers H.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 9b

17-19

The relationship between the measurement results of Epstein frame and Single Sheet Tester (SST) method are of increasing interest since, for technical and economical reasons, manufacturers and users of electrical sheet steel use more and more the SST for grading and quality control of this material. Besides the systematic deviations between these two methods, there is a considerable statistical component in that relationship. This paper is to demonstrate this phenomenon on the basis of the statistical characteristics of former international round robin tests and dispersion characteristics of material production estimated from the internal dispersions within 55 groups of Epstein samples from 9 manufacturers, each group being constituted of 4 or 5 samples of one grade from one manufacturer. The resulting total dispersion is slightly higher than that of a previous corresponding study accomplished in one laboratory.

Zależność między wynikami badań aparatem Epsteina a testerem próbek arkuszowych SST może mieć duże znaczenie praktyczne ponieważ coraz więcej ośrodków stosuje wymiennie tylko jedną z tych metod. Obok różnic fundamentalnych (zasady fizycznej) ważne sa też badania statystyczne różnic między tymi metodami. W artykule zaprezentowano międzynarodowe porównania różnych urządzę pomiarowych - badania wykonywano na różnych rodzajach próbek. Wyniki wskazują że różnice są większe niż w przypadku wcześniej demonstrowanych różnic między badaniami w jednym laboratorium.