PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Absorptive CdTe films optical parameters and film thickness determination by the ellipsometric method
Evmenova A. Z., Odarych V. A., Sizov F. F., Vuichyk M. V.
Optica Applicata
|
2008
|
Vol. 38, nr 3
585-600
EN
Ellipsometric detective method of refractive index, absorptive index and thickness of the film deposited on the substrate with some optical parameters has been developed. This method is applied for optical parameters and film thickness detecting in visible and near IR spectrum. Refraction index and film thickness dispersion has been studied. It has been determined that film refractive index (2.6 on average) is by 7% less than that of monocrystalline CdTe.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.