PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote The Analysis of Distorting Effects in Atomic Force Microscopy Based on Cantilever of Mechanical Type
Dupak B., Lobur M., Ivantsiv R., Kosobutskyy P.
Machine Dynamics Research
|
2013
|
Vol. 37, No. 2
22-28
EN
Analyzed the two main methods of AFM, the effect of which is essential in the research of individual microscopic adsorbed on the surface of a solid substrate: the broadening of the profile and the effect of understating the AFM height images of objects.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.