Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2013

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

New Data on the Epstein to Single Sheet Tester Relationship

Sievert J., Belgrand T., Fox D., Guo X., Kochmann T., Lyke R., Wang C., Zhou X.

Przegląd Elektrotechniczny

2013

R. 89, nr 7

1--3

Fifteen years ago, the Epstein frame to the independent Single Sheet Tester (SST92) relation was determined using a large number of correlated grain-oriented samples [1], and the results are reflected in Annex C of IEC standard 60404-3 [2]. Whilst those results were achieved using the same equipment of one reference laboratory, the new data originate from measurements on sample pairs from different manufactures using their own measuring equipment. The resulting Epstein to SST92 ratios show slightly higher values than the old ones, and a considerable dispersion. The reasons for these phenomena are discussed and further experiments for their clarification proposed.

Piętnaście lat temu zaprezentowano porównanie wyników badań różnych próbek blach elektrotechnicznych wykonanych metoda Epsteina i przy wykorzystaniu testera próbek arkuszowych SST92. Wyniki pochodziły z badania próbek w tym samym laboratorium. Nowe wyniki zaprezentowane w pracy przedstawiają badania różnych próbek w różnych laboratoriach. Otrzymano nieco większy rozrzut zmierzonych wartości. W artykule analizuje się przyczyny tych różnic.