PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Przegląd Elektrotechniczny
Autorzy help
  1. 1 Kmon P.
  2. 1 Lisicka A.
Lata help
  1. 1 2016
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote An universal test station for multichannel integrated neural amplifiers based on LabVIEW environment
Lisicka A., Kmon P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2016
|
R. 92, nr 11
115--118
EN
Modern technology allows for design of sophisticated measurement systems utilizing hundreds of independent recording channels. That imposes necessity of complex system functionality validation procedures development. The article describes an universal test system dedicated for tests of multichannel integrated circuits implemented in submicron technologies. Preliminary measurement results of a multichannel integrated circuit dedicated for advanced neurobiological experiments are also presented in the article.
PL
Współczesne technologie umożliwiają budowę systemów składających się z setek niezależnych torów pomiarowych o rozbudowanej funkcjonalności. Nakłada to konieczność przeprowadzenia szeregu testów weryfikujących ich działanie. Artykuł prezentuje projekt uniwersalnego systemu testującego opracowanego na potrzeby projektowanych, w technologiach submikronowych, wielokanałowych układów scalonych. W artykule przedstawiono również wyniki wstępnych pomiarów układu przeznaczonego do złożonych eksperymentów neurobiologicznych.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.