Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 2022

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Deposition and optical properties investigations of WO3 thin films for electrochromic device applications

Rybak Janusz, Marszalek Konstanty

Przegląd Elektrotechniczny

2022

R. 98, nr 9

251--254

Tungsten oxide WO3 thin films are one of the most widely used layers with electrochromic properties. Various deposition methods are used to produce them, including magnetron sputtering. In this paper the authors present the construction of a Lesker high vacuum system for GLAD Magnetron Sputtering and results of optical properties investigations of WO3 thin films which can be used for multilayer electrochromic systems.

Cienkie warstwy tlenku wolframu WO3 są jednymi z najszerzej stosowanych warstw o właściwościach elektrochromowych. Do ich wytwarzania stosowane są różne metody osadzania, w tym rozpylanie magnetronowe. W niniejszej pracy autorzy przedstawiają budowę wysokopróżniowego systemu firmy Lesker do rozpylania magnetronowego GLAD oraz wyniki badań właściwości optycznych cienkich warstw WO3, które mogą być stosowane w wielowarstwowych układach elektrochromowych.

Od proszku ceramicznego do cienkowarstwowej elektrody LiF dla wielowarstwowego systemu elektrochromowego

Rybak Janusz, Marszałek Konstanty

Materiały Ceramiczne

2022

T. 74, nr 1

8--12

W artykule przedstawiono wyniki badań właściwości optycznych cienkiej warstwy szybkiego przewodnika jonowego, fluorku litu (LiF), przeznaczonej do wytworzenia systemu elektrochromowego do zastosowań kosmicznych. Badania optyczne wykonano przy użyciu elipsometru spektroskopowego i spektrofotometru. Przedstawione zostały mapy jednorodności grubości, rozkładu powierzch-niowego współczynnika załamania (n) i współczynnika ekstynkcji (k).

This paper presents the results of a study of the optical properties of thin film of a fast ionic conductor, lithium fluoride (LiF), for the fabrication of an electrochromic sys-tem for space applications. Optical studies using a spec-troscopic ellipsometer and a spectrophotometer were performed. Maps of thickness homogeneity, distribution of surface refractive index (n) and extinction coefficient (k) are presented.