PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote The Influence of the Air Gap on the Characteristics of the Double-Shielded Microstrip Delay Devices
Mikucionis S., Urbanavicius V., Gurskas A., Krukonis A.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2014
|
R. 90, nr 6
275--279
EN
A double-shielded microstrip (DSM) device is made of conventional microstrip device and by mounting additional shielded dielectric plate on top of it. The resulting structure is similar to the strip line, but there is a significant difference – a thin air gap that is equal to the thickness of the microstrip. The thickness of this air gap can become uncontrollable in the device manufacture process. In this paper the influence of thin air gap on the electrical parameters of DSM devices such as: microstrip line, coupled lines, multiconductor line, and meander delay line is investigated.
PL
W podwójnie ekranowanym mikropasku (DSM) układu opóźniającego DDs dodano dodatkową warstwę dielektryczną. Cienka szczelina powietrzna ma grubość paska. Ta szczelina może być trudna do kontrolowania w procesie produkcji. W artykule analizowano wpływ szczeliny powietrznej na parametry układu DSM.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.