Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 2007

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Structure recognition of conductive materials utilizing FE-algorithms of non-destructive eddy-current testing

Gawrylczyk K., Kugler M.

Pomiary Automatyka Kontrola

2007

R. 53, nr 6

14-17

The paper deals with progress in electromagnetic methods used for structure evaluation of conducting materials. The term "electromagnetic methods" covers the following areas: magneto-inductive methods, magnetic leakage flux probe method, magnetometer principle and eddy-current methods. In 6948 the German visionary Friedrich Förster established his own company and developed highly sensitive measuring devices for magnetic fields at the Kaiser-Wilhelm-Institute. The methods and examples described in this paper relate only to eddy-current method, but the same idea may be applied for other methods, indeed. For the aim of inner structure recognition the sensitivity analysis with finite elements is proposed.

Praca dotyczy postępu w elektromagnetycznych metodach badania struktur przewodzących. Od roku 1948, gdy niemiecki wizjoner Friedrich Förster rozpoczął badania w Instytucie Cesarza Wilhelma w badaniach tych nastąpił wielki rozwój. Metody i przykłady opisane w niniejszej pracy odnoszą się jedynie do wiroprądowych badań materiałów, jednak przedstawiona idea może być łatwo przeniesiona do innych metod elektromagnetycznych. Opiera się ona na analizie układu pomiarowego metodą elementów skończonych, a następnie na przeprowadzeniu zadania odwrotnego umożliwiającego identyfikację struktury wewnętrznej materiału. Efektywne przeprowadzenie takiego zadania wymaga dostarczenia informacji o gradiencie funkcji celu, do czego wykorzystywana jest analiza wrażliwościowa wielkości pola elektromagnetycznego. Metody tej analizy, dobrze poznane i opisane w teorii obwodów elektrycznych, są dopiero rozwijane dla pól elektromagnetycznych. Zadania odwrotne prowadzą zwykle do źle uwarunkowanych, nadokreślonych układów równań. Uzyskane rozwiązanie jest często wynikiem kompromisu możliwej do uzyskania rozdzielczości w stosunku do użytych danych pomiarowych obciążonych błędami. Zastosowanie regularyzacji pozwala uzyskać zbieżność algorytmu nawet w takich przypadkach.

Modelowanie zakłóceń podłożowych w strukturach półprzewodnikowych przy użyciu metody elementów skończonych

Gawrylczyk K., Pawłowski P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2007

Vol. 48, nr 11

79-81

Omówiono wyniki symulacji metodą elementów skończonych sprzężenia podłożowego w strukturach półprzewodnikowych, realizowanych na wybranych typach podłoża krzemowego. Symulacje przeprowadzono przy użyciu własnego pakietu do obliczeń metodą elementów skończonych SONMAP opracowanego w Katedrze Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Politechniki Szczecińskiej. Przy użyciu MES i analizy wrażliwościowej możliwe jest prowadzenie procesów optymalizacji kształtu złącz, wysp i innych fragmentów struktur, wpływających na wielkość prądów zakłócających.

In this paper, results of simulation of substrate coupling in semiconducting structures, realized on selected silicon substrate types, utilizing finite element method are presented and discussed. The simulations were performed with the use of software package SONMAP for calculations based on the finite element method developed at Electrotechnics and Computer Sciences Chair of Szczecin University of Technology. Using FEM and sensitivity analysis it is possible to optimize the shapes of junctions, wells and other fragments of structures which have influence on the amount of substrate noise currents.