Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Archives of Metallurgy and Materials

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Accounting for secondary extinction in a novel X-ray absorption method used for thickness measurements of thin foils

Tomov I., Vassilev S., Tzvetkov P.

Archives of Metallurgy and Materials

2008

Vol. 53, iss. 1

265-270

A new approach accounting for secondary extinction (SE) is proposed for calculating the thickness of a foil mounted on textured substrate. To this end, the extinction-affected intensities of a strong substrate reflection are measured at different levels of interaction between X-radiation and crystal medium and, hence, these intensities suffer different extinction. Making use of such a series of measured intensities, the effect of extinction on the calculated foil thickness is eliminated by a proper definition of the zero-extinction condition. In this case, the definition is based on the incident-bean intensity independence of the empirical extinction coefficient k which is expressed by the measured intensities. The more precise interpretation of the experimental data leads to defining an extinction-free foil thickness, which results in improvement in the accuracy of the foil thickness determination.

Zaproponowano nowe rozwiązanie dotyczące obliczeń grubości folii osadzonej na steksturyzowanym podłożu, uwzględniające ekstynkcję wtórną (SE). W tym celu, intensywność silnego odbicia dyfrakcyjnego od podłoża obarczone ekstynkcją, mierzone są przy różnych poziomach oddziaływania pomiędzy promieniami X i materiałem krystalicznym folii. Wpływ ekstynkcji na mierzoną grubość folii można wyeliminować poprzez właściwą definicję warunku zero-ekstynkcji, stosując serię zmierzonych intensywności. W takim przypadku, definicja oparta jest na niezależności intensywności wiązki pierwotnej od współczynnika doświadczalnej ekstynkcji k wyrażanego przez mierzoną intensywność. Interpretacja danych doświadczalnych prowadzi do dokładnego wyznaczenia grubości folii pozbawionej wpływu ekstynkcji.

Accounting for Secondary Extinction in XRD Characterizations of Textures with Anisotropy-Responsive Methods

Tomov I.

Archives of Metallurgy and Materials

2005

Vol. 50, iss. 1

147-157

In studying textures of films extended knowledge is acquired about the anisotropy of the secondary extinction (SE) coecient g. It is deduced that the anisotropy of g is quanti-fied by texture factor. The texture factor accounts comprehensively for the crystallographic orientation and microstructural anisotropies of the sample. A dependence of coecient g on the incident beam intensity is found too. Taking advantage of a reflection pair, the constituent reflections of which represent the same texture factors, anisotropy-responsive methods are developed. These methods are used for improved XRD measurements of both the SE coecient and the texture factor of electrodeposited silver films. Furthermore, the eect of SE on the reflection broadening is considered and a method is described for eliminating the extinction induced enlargement in the integral breadth of reflection. For the same films, a substantial increase of integral breadths is established for the strong 111 and 200 reflections, while the weak 222 and 400 reflections do not change their integral breadths under the same conditions.

Określenie współczynnika g ekstynkcji wtórnej (SE) ma istotne znaczenie w badaniach tekstur cienkich warstw. Stwierdzono, że anizotropia g jest określana ilościowo przez czynnik tekstury, który w pełni uwzględnia orientacje krystalograficzną oraz anizotropie mikrostruktury próbki. W pracy określono również zależność współczynnika g od intensywności wiązki padajacej. Opracowano metody odpowiedzi anizotropowej wykorzystując parę odbić, która reprezentuje taki sam czynnik tekstury. Metody te ulepszaja pomiary tekstury technika dyfrakcji rentgenowskiej uwzgledniając zarówno współczynnik SE jak i czynnik tekstury dla warstw srebra wytworzonych metodą elektroosadzania. Ponadto, rozważany jest wpływ SE na poszerzenie odbicia oraz opisano metodę eliminacji ekstynkcji, która powoduje zwiększanie szerokości profilu odbicia bragowskiego. Dla takich samych warstw ustalono zasadniczy wzrost szerokosci odbicia dla silnych refleksów 111 i 200, podczs gdy słabe refleksy 222 i 400 nie zmieniają swojej szerokosci w tych samych warunkach pomiarowych.