Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2007

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Multi-path method by using shear horizontal wave for defect size detection

Ohtsuka Y., Nakamura N., Nishikawa M., Ueda Y.

Przegląd Elektrotechniczny

2007

R. 83, nr 11

191-193

A new method to determine the defect size by the estimation of the multi-path signals was proposed. In this method, two parameters were determined from the amplitude variations of the received waves through the multi-path. As a result, the real defect depths of 3 mm and 5 mm were evaluated as 3.2 mm and 4.6 mm from dy/dx of the fitting lines by least-squares method. Both results were achieved within maximum error of 10 % of the thickness reduction.

Zaproponowana została nowa metoda określania rozmiaru defektu za pomocą estymacji wielotorowej propagacji sygnałów. W metodzie tej wyznaczane są dwa parametry na podstawie zmian amplitudy fal propagujących różnymi torami. W wyniku zastosowania tej metody rzeczywiste defekty o głębokościach 3 mm i 5 mm zostały zidentyfikowane jako defekty o głębokości 3.2 mm i 4.6 mm. W procesie identyfikacji wykorzystano pochodną dv/dx krzywej aproksymującej otrzymanej metodą najmniejszych kwadratów. W obu przypadkach oszacowana głębokość defektów była mniejsza od rzeczywistej o 10%.