Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analiza właściwości optycznych oraz projektowanie półprzezroczystych cienkich warstw Ag w zakresie VIS-NIR

Domaradzki J., Kaczmarek D., Mazur M., Wojcieszak D., Jędrzejak T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2014

Vol. 55, nr 8

70-72

Cienkie warstwy srebra o grubości od kilku do kilkunastu nanometrów znajdują szerokie zastosowanie w konstrukcji różnych powłok optycznych. Warstwy takie, dzięki niewielkiej grubości charakteryzują się częściową przepuszczalnością dla światła w widzialnym zakresie widma promieniowania optycznego oraz zwiększonym odbiciem światła w zakresie bliskiej podczerwieni. Projektowanie powłok optycznych wymaga znajomości przebiegu charakterystyk dyspersji współczynników załamania i ekstynkcji światła, które w wypadku bardzo cienkich warstw mają inny przebieg niż obserwowany dla materiałów litych. W niniejszej pracy przedstawiono wyniki badania oraz analizy właściwości optycznych powłok Ag o grubości 5, 10 i 15 nm wytworzonych metodą parowania wiązką elektronową.

Thin films of silver with the thickness about several nanometers find a broad application in the construction of different optical coatings. Such layers, thanks to the small thickness are characterized themselves by semi-transparency for light from the visible part of optical radiation and enhanced reflectivity in the near infrared range. For designing of optical thin films it is required to know the run of the dispersion of refractive and extinction coefficients characteristics which are different than for solid materials. In this work, the results of investigations and analysis of optical properties of Ag films with the thickness of 5, 10, 15 nm, prepared by electron beam evaporation have been presented.

The analytic rank of a family of jacobians of Fermat curves

Jędrzejak T.

Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Mathematics

2008

Vol. 56, no 3-4

199-206

We study the family of curves Fm(p) : xp + yp = m, where p is an odd prime and m is a pth power free integer. We prove some results about the distribution of root numbers of the L-functions of the hyperelliptic curves associated to the curves Fm(p). As a corollary we conclude that the Jacobians of the curves Fm(5) with even analytic rank and those with odd analytic rank are equally distributed.