Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

A low-cost impedance measurement technique for thick-film electronic components diagnostics

Dudek M. W., Nitsch K., Dziedzic A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011

Vol. 52, nr 3

57-60

This paper propose middle and low frequency impedance measurement technique based on the use of PC and general purpose electric measurement devices available in typical laboratory. The use of PC for impedance calculations enables the implementation of advanced error compensation and digital signal processing algorithms. System accuracy for two types of voltage perturbation is tested and measurement accuracy is calculatet. Example of system use for thick-film components post-fabrication diagnostics is presented.

W pracy zaprezentowano technikę pomiaru impedancji elektrycznej w zakresie średnich i niskich częstotliwości. Technika ta wykorzystuje komputer oraz aparaturę pomiarową ogólnego zastosowania dostępną w każdym typowym laboratorium elektronicznym. Zastosowanie komputera do przetwarzania danych pomiarowych pozwala na zaimplementowaniu zaawansowanych algorytmów przetwarzania sygnałów i kompensacji błędu metody. Wyznaczono niepewności pomiarowe dla dwóch rodzajów proponowanego pobudzenia próbki. Zaprezentowano przykład wykorzystania prezentowanego systemu do kontroli technologicznej przy wytwarzaniu elementów grubowarstwowych.