Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych

Batrosński B.

Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne

2005

T. 8

701-708

Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Butli-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test), ścieżkę sterująco-obserwacyjną oraz magistralę ułatwionego testowania IEEE 1149. 1. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych metod oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań.

The paper presents au overview of design methods facilitating the testability (DFT) of digital circuits. Discussed methods are used at the level of integrated circuits, packages and electronic systems. Heuristic design methods are shown, allowing an increase of controllability and observability of circuits and structural methods are shown, among them BILBO (Built-In Logic Block Observer) and BIST (Built-In Self Test) circuits, the scan path and the test bus IEEE 1149.1. The advantages and disadvantages of the individual methods are discussed together with the perspectives of their practical application.