Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Scanner configuration suitable for both Zener reference standards comparisons and JVS measurements

Šira M., Novákowá Zachovalová V., Streit J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011

Vol. 52, nr 6

55-57

In this paper configurations of national standards of DC voltage often used in National metrological institutes are discussed. The typical configurations of scanner used for comparing voltages of bank of Zener reference standards and for Josephson voltage systems are described. Both systems are often used in laboratories of national rnetrological institutes. This leads to duplication of nanovoltmeters in a laboratory or often change of connecting wires. New scanner configuration used for the connection of the bank of Zener reference standards and Josephson voltage system together is presented. The advantage is the necessity of only one nanovoltmeter and the fixed configuration without the need of changing the wires for the current ongoing measurement. The drawback is that offsets of the scanner influence the Josephson voltage system measurements. This configuration was already tested in Czech Metrology Institute. Scanner offsets have been measured by means of two methods: by replacing the Zener reference standard with short and by using Zener reference standard as a test device. Results showed that the offsets were small enough compared to the noise of the Zener reference standard. Also stability of offsets was measured and was found sufficient. Therefore the new configuration is suitable for everyday measurements at national standard of DC voltage.

W pracy są dyskutowane konfiguracje państwowych wzorców napięcia DC często stosowanych w narodowych instytutach metrologicznych. Omówione są typowe konfiguracje skanera używanego dla porównania napięcia wzorców Zenera i napięcia wzorców Josephsona. Oba systemy są często używane w laboratoriach instytutów metrologicznych. Prowadzi to do podwojenia liczby nanowoltomierzy w laboratoriach i do częstej zamiany przewodów łączących. W pracy przedstawiono nową konfigurację skanera wykorzystywaną do pomiarów łączonych dwóch wzorców: Zenera wzorców napięcia i wzorców Josephsona. Zaletą tego sposobu jest stosowanie tylko jednego nanowoltomierza i brak potrzeby zmieniania przewodów łączących. Wadą jest wpływ napięcia offestu skanera na pomiary wzorca Josephsona. Przedstawiana konfiguracja skanera była już testowana w Czeskim Instytucie Metrologii. Offset skanera był mierzony dwoma metodami: przez zastępowanie wzorca Zenera zwarciem na wejściu skanera i przez wykorzystanie Zenera wzorca napięcia jako układu testowego. Wyniki pokazały, że napięcie offsetu skanera jest małe, porównywalne z szumem diod Zenera. Mierzona była także stałość napięcia offsetu i stwierdzono, że jest zadowalająca. Nowa konfiguracja skanera jest zatem odpowiednia dla codziennych pomiarów państwowego wzorca napięcia DC.