PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Analysis of composition, morphology and wettability of Mo thin layers deposited on glass
Tashlykov I., Żukowski P., Mikhalkovich O.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2016
|
R. 92, nr 11
229--231
EN
In this paper a composite structure, topography, wettability of a glass surfaces modified by means of ion-assisted deposition of molybdenum films in conditions of a self-irradiation are discussed.
PL
W niniejszej pracy przedstawiono struktury kompozytowe, topografie, zwilżalność powierzchni szkła modyfikowanego na drodze naparowywania jonowego warstwy molibdenu w warunkach napromieniowania.
2
Content available remote The elemental composition, topography and wettability of Pb0.25Sn1.75S2 thin films
Tashlykov I., Turavets A., Gremenok V., Zhukowski P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 3b
285--287
EN
PbSnS thin films were prepared by hot-wall vacuum evaporation (HWVE) and effect of substrate temperature on structural and surface morphological properties was thoroughly investigated by means of Rutherford backscattering spectroscopy, atomic force microscopy and water contact angle techniques, respectively.
PL
Cienkie wartwy PbSnS były wytwarzane metodą naparowania (HWVE). Badano wpływ temperatury podłoża na właściwości warstwy metodą spektroskopii Rutherforda i mikroskopem sił atomowych .
3
Content available remote Topography and water wettability of HWVD produced (Pb,Sn)S2 thin films for solar cells
Tashlykov I., Turavets A., Gremenok V., Bente K., Unuchak D.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 7
118-121
EN
Pb0,5Sn1,5S2 thin films were prepared by hot-wall vacuum deposition (HWVD) and effect of substrate temperature on structural and surface morphological properties was thoroughly investigated by means of X-ray diffraction, scanning electron microscopy, atomic force microscopy and water contact angle techniques, respectively. It is seen that contact angle measurements on (Pb,Sn)S2 films can be used to assess the quality of these materials prior to device fabrication
PL
Cienkie warstwy Pb0,5Sn1,5S2 wytworzono metodą gorącej ścianki. Metodami dyfrakcji promieni rentgenowskich, skaningowej mikroskopii elektronowej, mikroskopii sił atomowych i kąta zwilżania zbadano wpływ temperatury podłoża na strukturę i morfologię cienkich warstw. Ustalono, że badania kąta zwilżalności mogą być przydatne do określenia jakości warstw wykorzystywanych w ogniwach słonecznych.
4
Content available remote Composition of Co films/Si substrate systems prepared by means of self-ion assisted deposition and accompanying silicon damage
Tashlykov I., Mikhalkovich Y., Chernysh V.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 7
122-124
EN
The composition, radiation damage and morphology of silicon modified by means of self – ion assisted Co deposition was investigated.
PL
Zbadano skład i uszkodzenia radiacyjne krzemu zmodyfikowanego podczas naniesienia powłok Co metodą dynamicznego mieszania jonowego.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.