Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
This paper shows the comparison between the simulative evaluation and laboratory measurements of RF parameters in Remote Keyless Entry (RKE) receiver. It is produced in two variants: 315 MHz and 433 MHz (ISM band). The parameters that are evaluated are Sensitivity and Noise Figure. The standard procedure of Noise Figure evaluation assumes the usage of RF dedicated simulator. Unfortunately the requirements connected with large volume production - especially the statistical manner - are omitted in models prepared for RF simulators. Authors shows the methodology that allows to evaluate RF parameters with high precision using the standard SPICE - like simulator which is de facto world standard. Analyses are made using PCB extraction data in connection with standard SPICE - based models. The difference between the simulative based values and laboratory measurement values is only 2 dB.
PL
W artykule przedstawiono porównanie wybranych parametrów otrzymanych z symulacji odbiornika RKE (ang. Remote Keyless Entry), pracującego w paśmie ISM na częstotliwościach 315 MHz i 433 MHz, z pomiarami laboratoryjnymi. W ramach porównania skupiono się na analizie dwóch czynników: czułości i poziomie szumów własnych układu odbiorczego. W typowym podejściu, do wykonania takiego zadania używa się specjalizowanych symulatorów dedykowanych do analizy obwodów wielkiej częstotliwości. Niestety, wymagania techniczne związane z produkcją wielkoseryjną - a w szczególności zagadnienia statystyczne - są często pomijane w modelach przygotowywanych dla symulatorów w.cz. Autorzy pokazują, że możliwe jest wykonanie bardzo dokładnej symulacji w oparciu symulatory nie dedykowane do analizy w.cz. Szczególnie przy użyciu symulatora typu SPICE będącego w zasadzie światowym standardem. W analizach wykorzystano parametry połączeń wyekstrahowane z płytki PCB, a także typowe modele stosowane w symulatorach typu SPICE. Różnice między metodami symulacyjnymi i pomiarami laboratoryjnymi są na poziomie zaledwie 2 dB.
PL
Schemat ideowy układu elektronicznego jest zbiorem wzajemnie ze sobą połączonych elementów elektronicznych tworzących pewną sieć. Sieć ta jest strukturą, która może być w automatyczny sposób odczytywana analizowana. Automatyczna weryfikacja formalna schematu ideowego ma na celu wykrycie nietrywialnych błędów popełnionych przez projektanta w trakcie opracowywania schematu ideowego. W ramach analizy sprawdzana jest poprawność struktury i zgodność wartości wybranych parametrów tworzonego schematu w odniesieniu do - zdefiniowanych wcześniej - typowych bloków funkcyjnych. W artykule przestawiono przykładową realizację automatycznej weryfikacji formalnej przeprowadzaną w celu dokonania analizy klucza tranzystorowego począwszy od definicji okładu klucza tranzystorowego, przez sposób dostępu do schematu, po automatyczną identyfikację bloków funkcyjnych.
EN
Schematic diagram can be interpreted as set of components connected with themselves together to build a network. The network is a structure, which topology that can be red and analyzed. Automatic formal verification aims to detect some non-trivial mistakes, made by electrical engineer, connected with structure of a schematic, building blocks and typical functional sub-circuits. The article presents approach to realize automatic formal detection tool starting from definition of schematic structure, though connectivity with schematic-capture tool, to sub-circuit identification algorithm.
PL
W artykule przedstawiono porównanie współczynnika stosunku sygnału do szumu (SNR) dla synchronicznych oraz asynchronicznych przetworników analogowo-cyfrowych. Badania wykonano dla trzech modeli stochastycznych sygnałów wejściowych o rozkładach Gaussa, równomiernym oraz sygnału sinusoidalnego. Oszacowano spadek wartości współczynnika SNR dla asynchronicznego przetwornika analogowo-cyfrowego typu Sigma-Delta w porównaniu z klasycznym przetwornikiem synchronicznym, wywołany odpowiednio nieliniowością bloku próbkującego (-10dB) oraz niejednoznacznością procesu kwantyzacji (-3dB).
EN
This paper shows the difference between the SNR level for classical synchronous analog-to-digital converters (ADC) and asynchronous Sigma-Delta analog-to-digital converters (ASD ADC) (Fig. 2) [4, 5]. Simulative evaluation shows that the conversion quality for ASD ADCs is about 2 bit worse than for classical synchronous ADCs (Tabs. 1 and 2). The reason for such a difference is firstly the nonlinearity of an ASD ADC sampling block (ASDM) (-10dB in SNR value) and secondly the quantization noise whose variance value is two times bigger than in case of classical ADCs ( 3dB in SNR). Such big quantization noise is caused by the need of measuring the time position of two independent pulse edges with uniform probability density function (pdf) for the quantization error [8]. The difference for these two measurements yields a triangular distribution which overlaps consecutive quantization intervals (Fig. 1b) and is the source of uncertainty of the digital word at the ASD ADC output [8]. Simulations were performed for four configurations of sampling and quantization blocks, the classical ADC and three other sets of linear/nonlinear sampling blocks and certain/uncertain quantization blocks. Such simulation methodology shows the influence of properties of each element of the signal path in the ASD-ADC on the quantization noise pdf (Fig. 3). The SNR is evaluated for three stochastic models of input signals: Gauss, uniform and sinusoidal signal. Comparison requires assuming the proper amplitude and frequency domain, because of balance between the dynamic range and bandwidth of the ASD ADC.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.