PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Laboratorium wirtualne w dydaktyce i badaniach naukowych
Galwas B., Piwowarska E., Godziemba-Maliszewski M.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2015
|
Nr 41
85--92
PL
W dzisiejszych czasach rozwój technologii komputerowej otwiera coraz to nowe perspektywy przed twórcami współczesnych systemów pomiarowo-sterujących oraz platform umożliwiających zdalny dostęp do nich. W dziedzinie badań naukowych, laboratorium wirtualne należy traktować przede wszystkim jako element ułatwiający gromadzenie i przetwarzanie wyników pomiarów oraz platformę do pracy grupowej. W dydaktyce, wirtualne laboratorium jest elementem wspomagającym proces kształcenia, dostępnym w sposób ciągły zarówno w sensie miejsca, jak i czasu, oferującym funkcje platformy LCMS oraz możliwość dostępu do rzeczywistego sprzętu pomiarowo-sterującego. W referacie omówiono problemy, cele i zasady prowadzenia eksperymentu z wykorzystaniem platformy wirtualnego laboratorium. Zaprezentowana zostanie architektura platformy.
EN
Nearly avalanche expansion of the information and communication technology (ICT) strongly influenced many domains of our lives and opened up new prospects for the creators of modern measuring and control systems, platforms for remote access and didactic process. In order to build a remote laboratory an appropriate software and hardware must be used, in conjunction with the relevant telecommunication media. In the field of metrology the goal of using a remote laboratory in teaching process is that it releases a course participant from the constraints of place and time of the experiment. Remote laboratory offers the functions of managing the process of teaching and managing the educational content. It also enables the access to real-measuring equipment. Students can access virtual instruments via a computer network and carry out real experiments directly by using a standard Web browser. The object of this paper is to present a structure of remote laboratory.
2
Wpływ układu kluczującego na dokładność odwzorowania napięcia w układach próbkująco-pamiętających realizowanych w scalonej technologii CMOS
Król K., Piwowarska E.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 7
86-89
PL
W artykule przedstawiono wpływ realizacji układu kluczującego na dokładność układu próbkująco-pamiętającego zaprojektowanego w scalonej technologii CMOS 350 nm. Przeanalizowano zachowanie prostych kluczy NMOS, PMOS oraz CMOS. Następnie zaprojektowano i przeanalizowano układy kluczy o specjalnej konstrukcji, wykorzystujące efekt bootstrepu. Praktyczne zastosowanie otrzymanych wyników zilustrowano projektem 12-bitowego, szybkiego układu próbkująco-pamiętającego opartego o architekturę z millerowską pojemnością próbkującą.
EN
In this article the influence of a switching circuit realization on accuracy of voltage sample-and-hold circuit is shown. Switching circuits were designed and investigated in CMOS 350 nm technology. The influence of using simple single NMOS and PMOS transistor and CMOS transistor pair on the circuit accuracy were shown. Then, a special bootstrep switching circuits were designed and investigated. Practical application of obtained results was shown by designing and analyzing 12-bit fast sample-and-hold circuit based on miller capacitance architecture.
3
Statyczny pobór mocy w nanometrowych układach scalonych CMOS
Kuźmicz W., Pfitzner A., Piwowarska E., Kasprowicz D.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2008
|
Vol. 49, nr 9
119-122
PL
Jedną z głównych zalet technologii CMOS w zastosowaniu do wytwarzania cyfrowych układów scalonych był znikomy statyczny pobór mocy. Jednak układy wytwarzane przy zastosowaniu najbardziej zaawansowanych technologii, o długości kanału tranzystora poniżej 100 nm, nie mająjuż tej zalety. Tranzystory o takich długościach kanału przewodzą dość znaczne prądy (zwane prądami upływu) nawet w stanie wyłączenia. Artykuł omawia mechanizmy fizyczne przepływu tych prądów, wskazuje na ich związki z konstrukcją i technologią tranzystorów, a także zwraca uwagę na silny wpływ rozrzutów produkcyjnych na całkowity statyczny pobór prądu przez cyfrowe układy CMOS.
EN
One of the main advantages of digital CMOS circuits used to be negligible static power consumption. However, CMOS circuits manufactured with the most advanced technologies (with channel lengths below 100 nm) have lost this advantage. MOS devices having such gate lengths exhibit significant leakage currents even when turned off. The paper discusses the physical origins of these currents, shows how they depend on the device design and technology, and demonstrates strong dependence of the total static current consumption in digital CMOS circuits on process related variability.
4
Rekonfigurowalne systemy scalone (PSoC)
Łuba T., Piwowarska E., Jaworski Z.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2005
|
Vol. 46, nr 8
21-24
PL
Przedstawiono projektowanie systemów realizowanych w jednomodułowej strukturze scalonej tzw. System on Chip. Szczególnie uwzględniono projektowanie w rekonfigurowanych strukturach FPGA. Omawiane są również mankamenty metod i narzędzi projektowania.
EN
The paper presents an approach to System on Chip designs. The approach targets SoC designs containing reconfigurable FPGA. The paper also points out the weak aspects of related synthesis methods and tools.
5
Automatyzacja wstawiania punktów testowych w układzie cyfrowym
Sidlarewicz A., Piwowarska E.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2005
|
Vol. 46, nr 2-3
32-35
PL
W artykule zaprezentowano metodę wstawiania punktów testowych w modelu VHDL układu cyfrowego. Opracowane zostały dwie aplikacje. W pierwszej z nich zaimplementowano algorytm automatyzacji wstawiania punktów testowych. Druga aplikacja zawiera obliczenia parametrów, takich jak np. pokrycie uszkodzeń, będące podstawą oceny efektywności wstawienia punktów testowych do układu.
EN
In this work a method of automation of test points insertion in VHDL model was elaborated. Two applications were written. In the first one an algorithm of automation of test points insertion was implemented. The second application calculates the efficiency factors of test points insertion, such as fault coverage.
6
Content available remote Effects of interconnection inductances on VLSI circuit performance
Piwowarska E.
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
|
1998
|
Vol. 46, nr 3
353-361
EN
The inductance of on-chip interconnections is usually neglected in simulation of CMOS circuits behaviour. This assumption becomes not valid for modern technologies with higher frequency and greater parasitic RLC parameters of interconnections. This paper describes briefly the model of interconnection and presents the method for R, L parameter calculating in the range of frequency suitable for VLSI CMOS circuits. The calculated values are used for simulating the inductive effects in IC's. The significance of the on-chip interconnection inductance is discussed.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.