PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Reliability determination of nanoelectronic devices using semi-Marcov processes
Tomaszewska Justyna, Barański Jan, Zienkiewicz Tomasz, Iwaniuk Marek, Kurzyk Bartłomiej
Journal of KONBiN
|
2020
|
Vol. 50, iss. 3
277--296
EN
The main purpose of the article is to investigate the reliability process of nanoelectronics devices. Firstly, the research problem is presented based on foreign data source. Then, the analytical method has been chosen – semi-Marcov processes. Next, according to the adopted method and input data, the operating process has been analyzed. Finally, the probabilities of objects being in particular operating states, e.g. in the state of failure-free operation have been determined.
PL
W artykule badany jest proces niezawodności urządzeń nanoelektronicznych. Na początku przedstawiono problem badawczy, w oparciu o zagraniczne źródła danych. Następnie dobrano metodę analityczną – procesy półmarkowowskie. W kolejnej części, bazując na przyjętej metodzie i danych wejściowych, przeanalizowano proces eksploatacji, wyznaczając prawdopodobieństwa przebywania obiektów w poszczególnych stanach eksploatacyjnych, np. w stanie bezawaryjnej pracy.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.