Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Mechanik

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Algorytm cyfrowej korekcji głębi ostrości w elektronowej mikroskopii skaningowej

Bużantowicz M., Bużantowicz W.

Mechanik

2014

R. 87, nr 7CD

59—68

Głębia ostrości w skaningowych mikroskopach elektronowych (SEM) ograniczona jest czynnikami fizycznymi. Opracowany algorytm eliminuje niepożądane efekty charakterystyczne dla serii zobrazowań SEM (przesunięcia, zmiany geometrii) oraz zwiększa głębię ostrości poprzez cyfrową korekcję i złożenie zbioru fotografii w jeden obraz o żądanych parametrach. Działanie aplikacji jest niezależne od typu mikroskopu, stąd może ona współpracować z urządzeniami pomiarowymi różnych producentów. Istnieje również możliwość wykorzystania przedstawianego algorytmu do korekcji zobrazowań pozyskiwanych z klasycznych mikroskopów optycznych.

The depth of field (DoF) in scanning electron microscopes (SEM) is limited by physical factors. The developed algorithm eliminates adverse characteristics for a variety of SEM visualizations (drifts, changes in geometry) and increases the DoF by digital correction and assembling a set of photographs into a single image with desired parameters. The algorithm is independent from the type of device, so it can cooperate with microscopes delivered by different manufacturers. There is also a possibility of using the proposed solution to increase quality of visualizations obtained from conventional optical microscopes.

Zastosowanie mikroskopii skaningowej do inspekcji układów elektronicznych wykonanych w technologii SMT

Bużantowicz M., Bużantowicz W.

Mechanik

2013

R. 86, nr 7CD

71--76

Skaningowa mikroskopia elektronowa jest techniką obrazowania szeroko wykorzystywaną w wielu dziedzinach nauki. Niniejszy referat porusza zagadnienie zastosowania SEM do inspekcji układów elektronicznych wykonanych w technologii montażu powierzchniowego.

The scanning electron microscopy technique (SEM) is widely used in many fields of science. This paper raises the question of its application for inspection of electronic circuits made in surface-mount technology (SMT).