PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 9

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Współczesny zakres i tendencje rozwoju badań nieniszczących
Senczyk D.
Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Mechanika
|
2002
|
Nr 48
105-111
PL
W artykule omówiono początkowe znaczenia pojęcia "badania nieniszczące" , dalsze i obecne znaczenia tego pojęcia, współczesny zakres badań nieniszczących oraz tendencje rozwoju badań nieniszczących.
EN
Introduction. Initial sense of expression "non-destructive testing" .Further and present sense of expression "non-destructive testing" .Contemporary range of non -destructive testing. Progress trends of non-destructive testing.
2
Radiograficzna kontrola wyrobów w czasie rzeczywistym
Senczyk D.
Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Mechanika
|
2002
|
Nr 48
99-104
PL
System HMX (High Magnification X -Ray System) : firmy X -TEK (Anglia) jest Urządzeniem przeznaczonym do nieniszczącej kontroli małych elementów i zespołów o masie do 10 kg. Jest bardzo zaawansowanym technologicznie mikroogniskowym układem rentgenowskim. Promienie rentgenowskie wytwarza lampa z ogniskiem 5 um. Wiązka ta przechodzi przez badaną próbkę umieszczoną obrotowym stoliku manipulatora i obraz rentgenowski pada na wzmacniacz elektronowy. Przekształca on obraz rentgenowski w widzialny, który jest rejestrowany kamerą wideo i pokazywany na ekranie monitora. System HMX jest w rzeczywistości mikroskopem rentgenowskim o zdolności rozdzielczej szczegółów do 5 um grubości i powiększeniu do 160 razy . Całkowite powiększenie na ekranie wynosi do 1800 razy. System HMX ma szeroki wybór opcji: 3 zakresy wysokiego napięcia (125, 160, 225 kV), .3 rodzaje ognisk lampy (5 um, 10 um, wydłużona anoda), 3 manipulatory , 5 wzmacniaczy rentgenowskich, różne procesory obrazu i drukarki .
EN
The High Magnification X -Ray System (HMX) from X -TEK (England) is a multi -purpose cabinet intended for the non-destructive testing of smaller components and assemblies up to 10 Kg. The HMX is the most advanced microfocus X -ray system available. The X -ray source generates a continuous beam of X -ray from a 5 micron spot The beam passes through the sampIe placed on the manipulator turntable, and casts an X -ray shadow onto the intensifier window. The intensifier converts the X -ray shadow into a visible image, which is recorded by a video camera and displayed on a monitor. Capable of resolving detail down to 5 microns across, and with magnifications up to 160x, the HMX is a true X -ray microscope. The monitor image is further magnified by the ratio of size between monitor and intensifier window, total magnification is over 1800x. The HMX has a wider choice of options: 3 kV ranges (125, 160, 225 kV), 3 target types (ultrafocus 5 um closefocus 10um, 10 um rod anode), 3 manipulators, 5 X-ray intensifiers, 2 cabinet sizes, image processors, video printers and others accessories.
3
Możliwości pomiaru niezmienników tensora i dewiatora naprężenia metodami dyfraktometrii rentgenowskiej
Senczyk D., Sokołowski M.
Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Mechanika
|
2002
|
Nr 48
121-128
PL
Opracowano sposób pomiaru niezmienników tensora i dewiatora naprężenia metodą dyfraktometrii rentgenowskiej oraz program komputerowy wspomagający te pomiary .Umożliwi to badania związane z problematyką przejścia materiału polikrystalicznego ze stanu sprężystego w plastyczny w przypadku obciążenia go złożonym stanem naprężenia. Opracowaną metodykę zastosowano do badania stanu naprężenia w szlifowanych próbkach stali 55. Stwierdzono pełną jej przydatność i uzyskano ważne rezultaty .
EN
Stress tensor and stress deviator invariants measurement by X -ray diffraction and computer program is implemented. This makes possible investigation of polycrystalline material transition from elastic state into plastic one when complex stress state is applicated. The methodology is used for investigation of stress state for grinded samples of steel 55 and important resu1ts are obtained
4
Korelacja naprężeń zmierzonych metodami dyfraktometrii rentgenowskiej i magnetosprężystą w warstwie wierzchniej materiałów polikrystalicznych
Senczyk D., Olesiński S.
Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Mechanika
|
2002
|
Nr 48
113-120
PL
Pomiary makronaprężeń w próbkach ze stali konstrukcyjnej wyższej jakości 55 wykonano metodami dyfraktometrii rentgenowskiej i magnetosprężystą. Stwierdzono istotną korelację wyników pomiarów naprężeń tymi metodami. Metoda magnetosprężysta umożliwia bardzo szybki pomiar naprężeń na trzech głębokościach (20, 70, 200 J.Lm), konieczna jest znajomość krzywej kalibracyjnej dla badanego materiału. Osiągnięte rezultaty wskazu-ją na celowość kontynuowania badań dotyczących możliwości dalszych zastosowań meto-dy magnetosprężystej w pomiarach naprężeń w warstwie wierzchniej materiałów.
EN
Macrostresses were measured by X -ray and magneto elastic method in samples of steel 55. The corelation of results by both methods was obtained. Magnetoelastic method makes stress measunnent at three different depths (20, 70, 200 um) very fast but requires calibration curve to be known for given material. The results justify -to continue investigations of other possible applications.
5
Klasyfikacja naprężeń na podstawie badań metodami dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego
Senczyk D.
Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Mechanika
|
2002
|
Nr 48
91-97
PL
Przedstawiono powstawanie naprężeń własnych. Omówiono terminologię dotyczącą naprężen. Przedstawiono obecną klasyfikację naprężeń na podstawie badań metodami dyfraktometrii rentgenowskiej oraz przyczyny powstawania makronaprężeń i mikronaprężeń. Dokonano analizy metod pomiaru naprążeń własnych ze szczególnym uwzględnieniem metod nieniszczących (metod dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego, magnetosprężystej wykorzystującej efekt Barkhausena, metody ultradzwiękowej) .
EN
Formation process of internal stresses is presented. Stress terminology is discussed. Present stress classification based on investigations by X -ray diffraction methods and reasons for macro- and microstress formation are described. Analysis of methods for internal stress investigation, especially non-destructive methods (X-ray diffraction methods, magnetoelastic method based on Barkhausen effect, ultrasonic method) is made.
6
Jakościowa i ilościowa analiza fazowa mieszanin zawierających niestechiometryczne fazy międzywęzłowe
Senczyk D.
Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Mechanika
|
2002
|
Nr 48
81-90
PL
Przedstawiono zagadnienia związane z jakościową i ilościową analizą mieszanin zawierających niestechrometryczne fazy międzywęzłowe, a mianowicie: zmianę położenia linii dyfrakcyjnych tych faz, możliwości określenia ich składu chemicznego metodą rentgenograficzną, model jakościowej analizy faz niestechiometrycznych, warunki i model analizy ilościowej mieszanin zawierających fazy niestechiometryczne oraz jego doświadczalne sprawdzenie, badania tekstury niestechiometrycznych faz międzywęzłowych w powłokach. Wykazano, że analiza tych faz powinna być dokonywana zgodnie z przedstawionymi w pracy modelami. W przeciwnym razie możliwe są pomyłki lub niejednoznaczność identyfikacji oraz obarczenie wyniku analizy ilościowej dodatkowym błędem.
EN
Problems concerning qualitative and quantitative X -ray phase analysis of mixture containing non-stoichiometric interstitial phases are presented, namely: change of angular position of diffraction lines, possibility of chemical composition measurement by X -ray method. model of qualitative analysis of non-stoichiometric phases, conditions and model quantitative analysis of mixtures containing non-stoichiometric phases and its experimental verification, texture investigation of non-stoichiometric interstitial phases in coats. It is proved that the analysis should be done according to presented models. In other case mistakes can occur or correct identification is not possible or result of quantitative analysis includes additional error .
7
Badania stanu naprężenia w umocnionych próbkach stopu tytanu WT22
Senczyk D.
Zeszyty Naukowe. Mechanika / Politechnika Opolska
|
1999
|
z. 58
109-120
8
Dyfrakcyjne stałe sprężystości materiałów polikrystalicznych
Senczyk D.
Zeszyty Naukowe. Matematyka - Fizyka / Politechnika Śląska
|
1999
|
z. 87
115-124
PL
W pomiarach makronaprężeń metodami rentgenograficznymi stosuje się tzw. dyfrakcyjne stałe sprężystości, które można obliczyć według różnych modeli ciał sprężystych lub zmierzyć metodami rentgenograficznymi. Stosowane są różne modele ciał sprężystych: Voigta, Reussa, Hilla, Hubera i Schmida, Boasa, Bruggemana, Shibuya, Kneera i Kronera, Hashina i Shtrikmana, Kronera i Kocha, Laurenta i Eudiera, Aleksandrova, Ledbettera i Naimona. W pracy opisano zasady i warunki pomiarów stałych sprężystości materiałów polikrystalicznych i uzyskane rezultaty pomiarów.
EN
X-ray elastic constants are used in macrostress measurement by X-ray methods. They can be calculated according to various models or measured by X-ray methods. There are presented possibilities to calculate X-ray elastic constants for various polycrystalline models of solid state with use of computer software. The models that were elaborated by Voigt, Reuss, Hill, Huber and Schmid, Boas, Bruggeman, Shibuya, Kneer and Kroner, Hashin and Shtrikman, Kroner and Koch, Laurent and Eudier, Kasprzak, Aleksandrov, Ledbetter and Naimon are taken into account. Calculation of shear modulus for copper is presented as an example. X-ray elastic constants for polycrystalline materials can be also measured by X-ray methods. There are described measurement method and original devices for bending or stretching of flat probes in counter goniometer. The special attention is paid to computer-aided calculations. Measured values of elastic constants for some polycrystalline materials are given.
9
Dobór warunków detekcji promieniowania rentgenowskiego w badaniach strukturalnych materiałów polikrystalicznych
Senczyk D.
Zeszyty Naukowe. Matematyka - Fizyka / Politechnika Śląska
|
1999
|
z. 87
105-114
PL
Dobór warunków pracy dyfraktometru rentgenowskiego dotyczy głównie warunków wytwarzania tego promieniowania, pracy goniometru licznikowego i układu pomiarowego dyfraktometru. W ostatnim przypadku bardzo istotny jest właściwy dobór warunków detekcji promieniowania rentgenowskiego. W obecnej pracy przedstawimy na konkretnym przykładzie zasady doboru tych warunków.
EN
Principles of selection of conditions for X-ray detection in structural investigations of polycrystalline material with X-ray diffractometer are presented. The following problems are discussed: selection of conditions for X-ray counter, application of condition of maximal value of intensity ratio for characteristic and Bremsstrahlung radiation, application of sensitivity test to determine work conditions for X-ray tube, application of integral and differential characteristic curve of radiation counters for specified purposes.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.