Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Elementy optyczne pracujące w widmowym zakresie obejmującym ultrafiolet próżniowy i miękkie promieniowanie rentgenowskie

Wardzińska Martyna, Wachulak Przemysław

Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej

2022

Vol. 71, nr 2

49--83

W artykule zawarto podstawy fizyczne i przegląd elementów optycznych do pracy w zakresie obejmującym ultrafiolet próżniowy (eUV) oraz miękkie promieniowanie rentgenowskie (SXr). Pierwszy rozdział obejmuje wprowadzenie do analizowanej tematyki i podstawy fizyczne. W drugim rozdziale przedstawione zostały podstawy działania optyki związanej z zakresem eUV/SXr wraz z wyróżnieniem jej wad oraz zalet. W trzecim rozdziale szczegółowo omówiono elementy optyczne, takie jak: filtry optyczne, zwierciadła (m.in. wielowarstwowe), siatki dyfrakcyjne, płytki strefowe Fresnela oraz rozwiązania hybrydowe. rozdział czwarty przedstawia szeroki obszar zastosowań optyki eUV/SXr. W ostatnim rozdziale znajduje się podsumowanie przedstawionych wcześniej informacji.

The article presents the physical basis and overview of optical elements for the range including extreme ultraviolet (eUV) and soft X-ray (SXr). The first chapter contains an introduction to the subject under review and physical fundamentals. The second chapter presents the basics of optics for the eUV/SXr range, along with highlighting its advantages and disadvantages. The third chapter discusses in detail optical components such as optical filters, mirrors (including multilayers), diffraction gratings, Fresnel zone plates, and hybrid solutions. The fourth chapter presents a wide range of applications of eUV/SXr optics. The final chapter summarises the information presented earlier.

Wideband spectral emission measurements from laser-produced plasma EUV/SXR source based on a double gas puff target

Arikkatt Antony Jose, Wachulak Przemysław, Fiedorowicz Henryk, Bartnik Andrzej, Czwartos Joanna

Metrology and Measurement Systems

2020

Vol. 27, nr 4

701--719

We present spectral emission characteristics from laser-plasma EUV/SXR sources produced by irradiation of < 1 J energy laser pulse on eleven different double stream gas puff targets, with most intense electronic transitions identified in the spectral range from 1 nm to 70 nm wavelength which corresponds to photon energy from 18 eV to 1240 eV. The spectra were obtained using grazing incidence and transmission spectrographs from laser-produced plasma emission, formed by the interaction of a laser beam with a double stream gas puff target. Laser pulses with a duration of 4 ns and energy of 650 mJ were used for the experiment. We present the results obtained from three different spectrometers in the wavelength ranges of SXR (1-5.5 nm), SXR/EUV (4-15.5 nm), and EUV (10-70 nm). In this paper, detailed information about the source, gas targets under investigation, the experimental setup, spectral measurements and the results are presented and discussed. Such data may be useful for the identification of adequate spectral emissions from gasses in the EUV and SXR wavelength ranges dedicated to various experiments (i.e. broadband emission for the X-ray coherence tomography XCT) or may be used for verification of magnetohydrodynamic plasma codes.