Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
A new simple design methodology which makes LDR output nearly insensitive to jumps of the load current for long times is proposed. This methodology is tested for more than 10⁴ seconds. Our procedure leans on cross coupling of the time second derivative of the LDR power transistor gate and drain voltages along with their currents. This technique keeps low values of these currents in order of nano or hundreds of micro amperes for undershot or overshot cases, respectively. The introduced methodology has been applied to a standard CMOS of 0.18μm technology for NMOS transistors and validated using MATLAB R2014a.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.