Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 1999

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Automatyzacja pomiarów prototypowych układów scalonych

Budzisz H., Arsoba R., Żytkiewicz K.

Pomiary Automatyka Kontrola

1999

R. 45, nr 2

18-20

W pracy przedstawiono stanowisko do pomiaru charakterystyk i parametrów układółw scalonych ze szczególnym nastawieniem na analogowe układy wykonane w technologii CCMOS. Stanowisko przeznaczone jest do weryfikacji poprawności projektów nowych układów scalonych. Kolejność, rodzaj i parametry pomiarów ustawiane są przez polecenia, podobnie jak w symulatorze SPICE.

In the paper a system for measuring integrated circuits characteristics and parameters is presented. It is specially devoted for design veriffication of the new concepts of analog CMOS circuits. The measurement system equipped with GPIB interface consists of function synthesizer, multimeter and swith (fig.1). Instrument control, data acquisition, storing, processing and visualization is performed by software developed in LabWindows/CVI environment. The measurement schedule and their parameters are set by SPICE-like statements [1]. An example active filter (fig.2) has been tested. The results of DC and AC sweep are shown in fig.3 and fig.4 respectively.