Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Wpływ cząstek grafitowych lub metalowych na wytrzymałość termiczną silikonowego smaru termicznego

Araźna A., Janeczek K., Stęplewski W., Sitek J., Lipiec K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2018

|

Vol. 59, nr 12

43--46

PL

Stosowanie bardziej złożonych i miniaturowych elementów zintegrowanych w jednej obudowie w technologii mikroelektroniki skutkuje wysoką gęstością wytwarzanego ciepła. Dlatego efektywne zarządzanie ciepłem stało się kluczowym wymogiem przy projektowaniu nowoczesnych pakietów elektronicznych. Jedną z wielu metod zarządzania ciepłem generowanym w pakietach elektronicznych jest użycie materiałów termoprzewodzących (TIM). Materiały TIM mają za zadanie wyeliminowanie szczelin powietrznych uformowanych pomiędzy chipem IC a radiatorem i zwiększenie wymiany ciepła między nimi. Dlatego właściwości termiczne materiałów TIM odgrywają kluczową rolę w procesie rozpraszania ciepła. Celem pracy jest określenie wpływu cząstek grafitu, srebra lub miedzi na stabilność termiczną silikonowego smaru termicznego metodami termograwimetrii (TGA) i skaningowej kalorymetrii różnicowej (DSC). W pracy badano stabilność termiczną próbek TIM w oparciu wartości temperatury maksymalnej utraty masy, energi aktywacji reakcji rozkładu i początkowej temperatury rozkładu próbek. Wyniki pokazują, że proces degradacji wszystkich testowanych próbek TIM w warunkach analizy ma charakter wieloetapowy. Dodatki grafitu i cząstek metalu zmieniły stabilność termiczną silikonowego smaru termicznego.

EN

The use more complex and smaller components in one packaging in microelectronics technology results in high density of heat generated. In this sense, efficient thermal management has become a critical requirement for the design of modern electronic packages. One of the many methods to manage the heat generated within the electronics components is using Thermal Interface Materials (TIMs). The function of TIMs is to eliminate the interstitial air gaps formed between IC chip and heat sink and to improve heat transfer between them. Therefore, thermal properties of TIMs materials play a key role in heat dissipation. The goal of this work is to determine influence of graphite, silver or copper particles on thermal stability of the silicone based thermal grease by thermogravimetric analysis (TGA) and differential scanning calorimetry (DSC). The weight loss behavior and the thermal stability based on temperatures of maximum rate of weight loss, the activation energy of the decomposition reactions and the initial decomposition temperature were studied. The results reveal that degradation process of all the tested TIMs materials under the analysis condition is multistage. Addition of graphite and metal particles changed thermal behavior of the silicone based thermal grease.

2

Badania właściwości czujnika NFC przeznaczonego do bezprzewodowego monitorowania temperatury

Janeczek K., Stęplewski W., Araźna A., Lipiec K., Kościelsk M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2018

|

Vol. 59, nr 12

39--42

PL

W ostatnich latach nastąpił dynamiczny rozwój koncepcji połączenia różnego rodzaju urządzeń w taki sposób, aby możliwa była komunikacja i wymiana danych między nimi. Koncepcja ta jest określana jako Internet Rzeczy (IoT). Wykazuje ona potencjał aplikacyjny w wielu obszarach przemysłu i usług. Z tego względu zyskuje coraz większą popularność i jest przedmiotem badań wielu ośrodków naukowych w Polsce i za granicą. W niniejszym artykule został opisany projekt i badania właściwości czujnika NFC, który umożliwia monitorowanie temperatury identyfikowanego obiektu. Czujnik ten pracuje w zakresie częstotliwości HF 13,56 MHz. Odczyt danych identyfikacyjnych oraz temperatury odbywa się przy zastosowaniu telefonu komórkowego, wyposażonego w układ NFC lub przy użyciu dedykowanego czytnika RFID.

EN

In the recent years a dynamic development of a concept consisting in a connection of different types of devices, which are able to communicate and exchange data, has taken place. This concept is called as Internet of Things (IoT). It exhibits application potential in many areas of industry and services. Therefore, it gains more and more popularity and is a subject of study conducted in many research entities in Poland and abroad. In this paper, design and investigations of parameters of NFC sensor were reported which makes possible to monitor temperature of an identified object. This sensor works in the HF frequency band 13.56 MHz. Identification data and temperature values are read with using of a mobile phone equipped with NFC reader or a dedicated RFID reader.

3

Badania rentgenowskie obiektów elektronicznych

Lipiec K., Araźna A., Stęplewski W., Janeczek K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2018

|

Vol. 59, nr 12

21--24

PL

Obecnie szerokim zainteresowaniem naszych klientów cieszą się badania rentgenowskie, ze względu na szybką wykrywalność różnego rodzaju wad w badanych wyrobach elektronicznych, bez konieczności trwałego niszczenia zmontowanych płytek lub innych trudno demontowanych podzespołów. Aby wyjść naprzeciw oczekiwaniom naszych klientów w Instytucie Tele i Radiotechnicznym staramy się nadal unowocześniać park maszynowy podnosząc jednocześnie naszą wiedzę w tego rodzaju badaniach.

EN

Currently, our customers are widely interested in X-Ray inspection, due to the fast detection of various types of defects in the tested electronic products, without permanently destroying the assembled board or other hard-to-demount components. In order to meet the expectations of our clients at the Tele and Radio Research Institute, we still try to modernize the machine park, while raising our knowledge in this type of research.

4

Dekapsulacja chemiczna w analizie uszkodzeń pakietów IC

Araźna A., Janeczek K., Stęplewski W., Lipiec K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2017

|

Vol. 58, nr 12

22--24

PL

Dominujący w dzisiejszym świecie trend użycia coraz mniejszych urządzeń elektronicznych spowodował wzrost roli pakietów elektronicznych zintegrowanych w przyjaznych dla środowiskach obudowach. Istotną rolę odgrywa kontrola jakości tych pakietów, która pozwala uniknąć nieoczekiwanych kosztów związanymi z ich uszkodzeniem, zniszczeniem czy nawet sfałszowaniem. W pracy przedstawiono sposób kontroli pakietów IC polegający na dekapsulacji chemicznej ich obudowy w roztworze stężonego kwasu siarkowego, poprzedzonej analizą rentgenowską i wstępnym szlifowaniem oraz analizą wnętrza układu na mikroskopie optycznym po procesie dekapsulacji. Zaproponowany sposób prowadzenia procesu dekapsulacji jest w opinii autorów tanią i szybką metodą kontroli układów elektronicznych przed ich montażem w urządzeniach jak również analizy uszkodzeń po ich zniszczeniu.

EN

The dominant trend, in today’s world, using smaller electronic devices has caused increasing the role of electronic packages integrated in environmentally friendly packaging. An important role plays the quality control of these packages, which allows to avoids the unexpected costs of damage, destruction or even faked them. In this work, the two-step decapsulation procedure was proposed with comprises initial polishing of a power module and removal of mould compound with using a concentrated sulphuric acid at elevated temperature. Before decapsulation every sample was subjected to X-ray inspection to reveal possible failure. After this process, an inner structure of the samples was observed using a digital microscope. The described methods of failure analysis can find application in electronic industry to select components which are free of damage and in effect which allow to produce high reliable devices.

5

Zastosowanie technik addytywnych w elektronice

Araźna A., Janeczek K., Stęplewski W., Lipiec K., Kozioł G., Sitek J., Kościelski M., Gromek J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2016

|

Vol. 57, nr 6

17--22

PL

Atrakcyjność addytywnych technik druku zarówno bezkontaktowych, jak i kontaktowych inspiruje wiele ośrodków badawczych i producentów obwodów drukowanych do podejmowania prac badawczych mających na celu obniżenie kosztów produkcji i dostosowanie się do wzrastających wymogów ochrony środowiska poprzez dokonanie radykalnego postępu w zakresie materiałów i procesów technologicznych. W artykule przedstawiono działalność badawczą Centrum Zaawansowanych Technologii Instytutu Tele- i Radiotechnicznego podejmowaną w ostatnich latach w zakresie wykorzystania technik addytywnych do wytwarzania drukowanych elementów elektronicznych i nowej generacji urządzeń elektronicznych.

EN

The attractiveness of additive printing techniques inspires many research centers and manufacturers of printed circuit boards to undertake research aimed at reducing production costs and adapting to the increasing environmental requirements by making radical advances in materials and processes. The article presents activities in Centre of Advanced Technologies of Tele and Radio Research undertaken in the recent years in the use of additive printing techniques to produce printed electronic components and a new generation of electronics devices.

6

Podzespoły bierne i układy elektroniczne zintegrowane z płytkami obwodów drukowanych

Stęplewski W., Araźna A., Janeczek K., Lipiec K., Futera K., Sitek J., Kościelski M., Serzysko T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2016

|

Vol. 57, nr 6

103--108

PL

W artykule przedstawiono technologię integracji podzespołów biernych oraz układów elektronicznych z płytką obwodu drukowanego opracowaną Instytucie Tele- i Radiotechnicznym. Opracowana technologia pozwala na integrację rezystorów, kondensatorów i cewek z płytką obwodu drukowanego przede wszystkim przez wbudowywanie ich do wnętrza płytki drukowanej, co zapewnia wiele korzyści w tym zwiększenie miejsca na powierzchni płytki dla podzespołów czynnych, zmniejszenie wymiarów płytki, polepszenie niektórych parametrów elektrycznych, a także jest potencjalnie bardziej przyjazna środowisku naturalnemu. Zastosowanie elementów wbudowanych nie ogranicza się tylko do podłoży sztywnych są one również kompatybilne z podłożami elastycznymi, dzięki czemu mogą być stosowane w giętkich obwodach drukowanych i wykorzystywane w tekstronice.

EN

The article presents the integration technology of passive components and electronic circuits with the printed circuit board developed in the Tele & Radio Research Institute. This technology allows the integration of resistors, capacitors and coils with the printed circuit board mainly by their embedding inside the circuit board. This provides many advantages including increased the place on the PCB surface for the active components, reducing the size of the PCB, the improvement of some electrical parameters, and is potentially more friendly to the natural environment. The use of embedded components is not limited only to rigid substrates also are compatible with elastic substrates, so that they can also be used in flexible printed boards and used in textronics.

7

Identyfikacja radiowa RFID : zakres badań, osiągnięcia i perspektywy rozwoju w Instytucie Tele- i Radiotechnicznym

Janeczek K., Stęplewski W., Araźna A., Lipiec K., Sitek J., Kościelski M., Gromek J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2016

|

Vol. 57, nr 6

23--27

PL

W artykule przedstawiono działalność badawczą w zakresie systemów identyfikacji radiowej, prowadzoną w Centrum Zaawansowanych Technologii Instytutu Tele- i Radiotechnicznego w ostatnich latach. Opisano obszary prowadzonych badań nad nowymi rozwiązaniami w zakresie wytwarzania anten identyfikatorów RFID i technik montażu struktury półprzewodnikowej oraz integracji opracowanych identyfikatorów z różnego rodzaju czujnikami narażeń zewnętrznych, mogących znaleźć zastosowanie nie tylko w transporcie i magazynowaniu towarów, ale również w aplikacjach tzw. Internetu Rzeczy. Przedstawiono również dokonania w zakresie w/w badań i opisano perspektywy rozwojowe systemów RFID w ciągu najbliższych kilku lat.

EN

In this article, research activities in the range of Radio Frequency Identification (RFID) taken up in Centre for Advanced Technologies of Tele and Radio Research Institute were reported. Fields of conducted investigations on new solutions for fabrication of RFID tag’s antennas, assembly techniques of RFID chips and integration of prepared tags with different kinds of external exposure sensors for application in transport and storage of products as well as in Internet of Things. Achievements in the mentioned above fields and development prospects of RFID systems in the next few years were presented.

8

Elementy zrównoważonego rozwoju produktów elektronicznych w gospodarce o obiegu zamkniętym

Sitek J., Kościelski M., Araźna A., Janeczek K., Stęplewski W., Lipiec K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2016

|

Vol. 57, nr 6

117--120

PL

W artykule przybliżono tematykę zrównoważonego rozwoju produktów elektronicznych. Ukazano ewolucję pro-ekologicznych zmian legislacyjnych w Europie w tym obszarze oraz ukazano genezę i zasady modelu gospodarki o obiegu zamkniętym. Przybliżono cele i zakres projektu „sustainablySMART”, który rozwija technologie i elementy gospodarki o obiegu zamkniętym na przykładzie mobilnych urządzeń informacyjnych i komunikacyjnych. Wskazano obszary zrównoważonego rozwoju produktów elektronicznych, w których aktywnie uczestniczył i uczestniczy Instytut Tele- i Radiotechniczny.

EN

The article shows the subject of sustainable development of electronic products. The evolution of pro-environmental legislative changes in Europe in this area and the genesis as well as principles of a Circular Economy were presented. The goals and the scope of the “sustainablySMART” project which develops technologies and elements of the Circular Economy on an example of mobile information and communication devices were showed as well. The areas of sustainable development of electronic products were pointed out in which Tele and Radio Research Institute has actively participated and participates.

9

Badanie jakości pakietów elektronicznych

Lipiec K., Araźna A., Janeczek K., Janeczek K., Sitek J., Stęplewski W., Kościelski M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2016

|

Vol. 57, nr 6

28--31

PL

W artykule przedstawiono różne możliwości kontroli jakości połączeń lutowanych pakietów elektronicznych. W Instytucie Tele- i Radiotechnicznym od wielu lat z ogromnym powodzeniem prowadzone są tego typu prace badawcze dla wielu znanych klientów. Nie są to badania jednostkowe, ale wielokrotnie powtarzające się usługi na szeroką skalę. Celem takich badań jest ograniczenie wysokich kosztów naprawy urządzeń elektronicznych spowodowanych wystąpieniem wad połączeń lutowanych.

EN

The paper presents various options of solder joints quality control of electronic packages. In the Tele & Radio Research Institute for many years with great success are conducted this type of research for many well-known clients. These are not the test unit, but the multiple repetition of services on a large scale. The aim of this research is to reduce the high costs of repair of electronic equipment caused by the occurrence of defects in solder joints.

10

Trawienie plazmowe i ultradźwiękowe warstw tlenku indowo - cynowego (ITO) - Cz. II. Właściwości elektryczne diod OLED

Janeczek K., Araźna A., Futera K.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2015

|

R. 91, nr 9

224-225

PL

W pracy badano wpływ właściwości powierzchni warstw ITO trawionych w ultradźwiękach lub z wykorzystaniem tlenowego wyładowania jarzeniowego na właściwości elektryczne diod OLED. Analizując wyniki badań stwierdzono, że chropowatość powierzchni warstw ITO ma istotny wpływ na wartości gęstości prądu próbek diod OLED, a poza tym, że czyszczenie powierzchni z zastosowaniem tlenowego wyładowania jarzeniowego może być uznane za skuteczną metodę trawienia warstw ITO, wykorzystywanych jako anoda diod OLED.

EN

In this study, the influence of surface properties of ITO layers treated in ultrasonic or with using oxygen glow discharge on electrical properties of OLED samples was investigated. Experimental results showed that the electrical properties of OLED samples are closely related to the surface roughness of ITO layers and furthermore that the oxygen glow discharge surface treatment can be considered as an effective method for treated of ITO layers used as an anode of OLEDs.

11

Właściwości elektryczne organicznych diod elektroluminescencyjnych wytwarzanych w atmosferze gazu obojętnego

Araźna A., Janeczek K., Lipiec K., Futera K., Stęplewski W., Gromek J

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2015

|

Vol. 56, nr 11

19-21

PL

W artykule przedstawiono wyniki badań właściwości elektrycznych organicznych diod elektroluminescencyjnych (OLED), wytwarzanych w atmosferze gazu obojętnego. Przygotowywane próbki miały następującą budowę: podłoże szklane/ITO/PEDOT:PSS/ADS233YE/aluminium. Dla części próbek zastosowano hermetyzację katody aluminiowej przy użyciu żywicy utwardzanej promieniowaniem UV. Uzyskane wyniki pokazały, że gęstość prądu dla diod wykonanych w atmosferze argonu była średnio o połowę mniejsza w porównaniu do diod wytworzonych w warunkach otoczenia. Poza tym analiza działania przygotowanych diod OLED wykazała, że zastosowanie hermetyzacji katody w próbkach wykonanych w atmosferze gazu obojętnego doprowadziło do zmniejszenia procentowego stosunku powierzchni świecenia diod w odniesieniu do powierzchni ich warstwy katody.

EN

In this paper, electrical properties of organic light-emitting diodes (OLED) fabricated in inert gas atmosphere were reported. The prepared samples had a following structure: glass substrate/ ITO/PEDOT: PSS/ADS233YE/aluminum. For a part of the samples aluminum cathode was encapsulated with using an UV cured resin. Achieved results showed that a current density for the diodes fabricated in argon atmosphere was average half lower compared to the diodes prepared in ambient conditions. Further, the analysis of the OLED performance exhibited that the use of cathode encapsulation for the samples produced in inert gas atmosphere led to decrease in a percentage ratio of a diode lighting area in comparison to the area of their cathode.

12

Jakość połączeń lutowanych wykonanych na PCB z podłożem metalowym

Araźna A., Janeczek K., Lipiec K., Kozioł G.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2015

|

Vol. 56, nr 11

80-82

PL

W pracy badano wpływ szoków termicznych na jakość połączeń lutowanych diod i rezystorów wykonanych na laminacie FR4 oraz na płytkach obwodów drukowanych z podłożem aluminiowym. Do wykonania połączeń lutowanych wykorzystano dwa rodzaje past oraz profile lutownicze dobrane do rodzaju podłoża. Wszystkie próbki były narażane na szoki temperaturowe w komorze szokowej (-40°C/+85°C). W celu określenia wpływu narażeń temperaturowych na jakość połączeń lutowanych wykonano pomiary rezystancji, inspekcję rentgenowską i zgłady metalograficzne połączeń lutowanych bezpośrednio po wykonaniu próbek oraz po 100, 500 i 1000 godzinach narażeni temperaturowych. Stwierdzono, że po 1000 h narażeń temperaturowych wszystkie badane diody (niezależnie od typu podłoża PCB i warunków lutowania) oraz wszystkie rezystory lutowane na podłożu FR4 działają prawidłowo. Natomiast w około 24–52 % połączeń lutowanych rezystorów wykonanych na podłożu aluminiowym wykryto brak połączenia elektrycznego. Inspekcja X-Ray wykazała występowanie w nich pęknięć, co zostało potwierdzone po wykonaniu zgładów metalograficznych połączeń lutowanych.

EN

In this work, the influence of thermal shocks on the reliability of diodes and resistors solder joints made on FR4 laminate or aluminum core printed circuit boards was investigated. There were used two kind of solder paste as well as two kind of reflow profile to the sample prepared. All samples were thermally annealed in shock chamber (-40°C/+85°C). The solder joints resistance, X-Ray inspection and metallographic cross-section for fresh samples and after 100, 500 and 1000 hours in shock chamber were made. They stated, that after 1000 h of thermal shocks all investigated diodes (irrespective of type surface of PCB and conditions of assembly process) and all tested resistors on the FR4 PCB working correctly. However, no electrical connection was found for all tested lines of resistor on aluminum core PCB; the X-Ray inspection showed the occurrence of the cracks in the about 24–52 % of tested resistors solder joints, that was confirm after made metallographic cross-sections.

13

Nowy blok energetyczny o mocy 910 MW na parametry nadkrytyczne opalany węglem kamiennym w Elektrowni Jaworzno III – rozwiązania projektowe kotła

Twardawa M., Zabłocki W., Żelazko O., Janeczek K.

Energetyka

|

2014

|

nr 11

699--702

PL

Dnia 17.04.2014 roku podpisano Kontrakt pomiędzy TAURON Wytwarzania S.A. a Konsorcjum RAFAKO S.A. (lider) – Mostostal Warszawa S.A. na budowę pod klucz bloku energetycznego 910 MW w Elektrowni Jaworzno III – Elektrownia II. Budowa nowego Bloku energetycznego ma ogromne znaczenie dla polskiej elektroenergetyki. W inwestycji zostaną wykorzystane najnowocześniejsze i najlepsze dostępne technologie oraz światowe doświadczenia w zakresie realizacji i wyposażenia nowych dużych bloków energetycznych. Nowy blok będzie spełniał wszystkie wymagania wynikające z Dyrektywy Unii Europejskiej w zakresie emisji zanieczyszczeń do atmosfery. Realizowana inwestycja ma również bardzo duże znaczenie dla odbudowy mocy energetycznych w Elektrowni Jaworzno, a także dla utrzymania ciągłego rozwoju regionu, w którym będzie zlokalizowana. Paliwo dostarczane do nowego bloku będzie pochodziło w blisko 80% procentach z kopalń należących do grupy TAURON. Nowy blok będzie produkował 6,5 TWh energii elektrycznej, co odpowiada 5% obecnego krajowego zapotrzebowania na energię. W artykule przedstawiono główne rozwiązania techniczne jakie zostaną zastosowane w zakresie projektu kotła dla nowego bloku 910 MW.

EN

On 04/17/2014 has been signed Contract between TAURON Wytwarzanie S.A. and the Consortium RAFAKO S.A. (leader) – Mostostal Warszawa S.A. for the construction of full turnkey 910 MW power unit. Construction of a new Power Unit has huge significance for the Polish power sector. The most and the best available technology and the global experience in the construction and equipment of new large Power Unit will be used in the investment. The new Unit will fulfill all requirements under the EU Directive concerning pollutant emissions into the atmosphere. The investment is also very important for the reconstruction of Jaworzno Power Plant energy production capacity and also for the continued development of the region, where it will be located. Fuel for the new unit will come in nearly 80 percent from the mines belonging to the group TAURON. The new unit will produce annually 6,5 TWh of electricity, equivalent to 5 percent of the current domestic consumption of energy. The article presents the main technical solutions to be applied in the field of boiler of new 910 MW Unit.

14

Wytrzymałość połączeń struktur półprzewodnikowych na narażenia temperaturowe

Janeczek K., Kozioł G., Araźna A., Jakubowska M., Młożniak A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2014

|

Vol. 55, nr 7

24-26

PL

Montaż elementów elektronicznych na elastycznych podłożach jest jednym z kluczowych procesów technologii wytwarzania drukowanych identyfikatorów RFID. Osiągnięcie wysokiej wytrzymałości na narażenia środowiskowe połączeń struktur półprzewodnikowych do anten identyfikatorów wymaga opracowywania nowych materiałów do druku pól montażowych. W artykule przedstawiono badania wytrzymałości na narażenia temperaturowe połączeń między strukturą półprzewodnikową a anteną, nadrukowaną na tanich, elastycznych podłożach. Do druku pól montażowych został wykorzystany izotropowy klej przewodzący, modyfikowanych dodatkiem wielościennych nanorurek węglowych. Dla porównania wykonano również montaż struktur półprzewodnikowych przy użyciu polimerowej pasty srebrowej. Wpływ narażeń temperaturowych na właściwości badanych połączeń oceniano na podstawie pomiarów ich rezystancji i siły ścinania.

EN

Assembly of electronic components on flexible substrates is one of the key processes in manufacturing technology of printed RFID transponders. Achieving high durability of chip to transponder’s antenna joints on environment exposure requires to elaborate new material for chip pad printing. In this article, investigations of thermal durability of joints created between chip and printed low-cost flexible antenna were presented. To print chip pads an isotropic conductive adhesive modified with an addition of multi-wall carbon nanotubes was used. For comparison, assembly of chips with the use of a polymer silver paste was also carried out. Influence of temperature exposure on the properties of the formed joints were assessed by measurements of their resistance and shear force.

15

Wpływ wilgoci i temperatury na właściwości elektryczne diod OLED

Araźna A., Kozioł G., Janeczek K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2014

|

Vol. 55, nr 7

42-44

PL

W pracy badano wpływ warunków przechowywania próbek diod OLED na ich właściwości elektryczne. Próbki wykonane były na podłożu szklanym z warstwą tlenku indowo-cynowego (ITO) stanowiącą anodę. Zastosowano poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate) (PEDOT:PSS) do wytwarzania warstwy przenoszącej dziury, poly[(9,9-dioctylfluorenyl-2,7-diyl)-co-(1,4-benzo-{2,1’,3}-thiadiazole)] jako warstwę emitująca światło (EML) oraz naparowaną warstwę aluminium jako katodę. Próbki przechowywano w komorze klimatycznej w warunkach 40°C/50% RH lub w warunkach obniżonej wilgotności powietrza (około 30% RH). Wpływ warunków przechowywania na właściwości elektryczne próbek określano porównując charakterystyki prądowo-napięciowe wykonane bezpośrednio po przygotowaniu próbek i po zastosowaniu narażeń klimatycznych. Obserwowano również zmiany morfologii powierzchni katody aluminiowej na mikroskopie SEM. Stwierdzono, że 98% badanej partii próbek (bez hermetyzacji katody) przechowywanych w komorze klimatycznej przestaje przewodzić prąd. Obserwacja katody aluminiowej na mikroskopie SEM na tego rodzaju próbkach wykazała występowanie zmian w jej morfologii powierzchni. Zastosowanie hermetyzacji katody wydłużyło czas przewodzenia złącza próbek struktur diod OLED.

EN

In the present work the influence of storage conditions on the electrical properties of OLED samples was investigation. The samples were prepared on the glass substrate with indium-tin oxide (ITO) layer constituting the anode. The poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate) (PEDOT:PSS) as hole transport layer (HTL), was used poly[(9,9-dioctyl-fluorenyl-2,7-diyl)-co-(1,4-benzo-{2,1’,3}-thiadiazole)] as emissive layer (EML) and evaporated aluminum layer as the cathode, were used. Samples were stored in a climatic chamber under conditions of 40°C/50% RH or under low humidity (about 30% RH). Influence of storage conditions on the electrical properties of the samples were determined by comparing the current-voltage characteristics taken immediately after preparation and after exposed samples on the climatic conditions. Morphological changes of the surface of aluminum cathode were also observed using SEM microscope. It was found that 98% of the tested samples (without cathode encapsulation) stored in a climatic chamber stops conducting. Observation of the aluminum cathode on the SEM microscope showed the presence of changes in surface morphology. The use of the cathode encapsulation prolonged the life time of the OLEDs samples.

16

Passive UHF RFID-enabled sensor system for detection of product's exposure to elevated temperature

Janeczek K., Jakubowska M., Kozioł G., Jankowski-Mihułowicz P.

Metrology and Measurement Systems

|

2013

|

Vol. 20, nr 4

591--600

EN

Temperature change is one of key factors which should be taken into account in logistics during transportation or storage of many types of goods. In this study, a passive UHF RFID-enabled sensor system for elevated temperature (above 58°C) detection has been demonstrated. This system consists of an RFID reader and disposable temperature sensor comprising an UHF antenna, chip and temperature sensitive unit. The UHF antenna was designed and simulated in an IE3D software. The properties of the system were examined depending on the temperature level, type of package which contains the studied objects and the type of antenna substrate.

17

Wstępne próby starzeniowe organicznych diod elektroluminescencyjnych

Araźna A., Stęplewski W., Janeczek K., Kozioł G., Gromek J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 9

84-86

PL

W pracy określano wpływ zmiennych warunków temperatury i wilgotności powietrza na stabilność diod OLED wykonanych w warunkach otoczenia. Badano próbki z trzema rodzajami związku emitującego światło oznaczonymi jako ADS5, ADS8 i MEH-PPV. Próbki ze związkami ADS5 i ADS8 przechowywano w warunkach obniżonej wilgotności powietrza, natomiast próbki ze związkiem MEH-PPV w zmiennych warunkach temperatury i wilgotności powietrza. Wyznaczano charakterystyki prądowo-napięciowe próbek bezpośrednio po wykonaniu i po testach starzeniowych w zakresie napięcia od 0 V do 20 V. Dla próbek ze związkami ADS5 i ADS8 odnotowano zmniejszenie wartości gęstości prądowej średnio o około 42% w porównaniu z wartością początkową (przy napięciu 15 V) po około 2700...3000 godzinach. Natomiast dla próbek ze związkiem MEH-PPV po 100 h przechowywania w komorze klimatycznej obserwowano zmniejszenie wartości gęstości prądowej o około 92% w porównaniu z wartością początkową.

EN

In the work the influence of environmental conditions on the stability of OLED samples mede in ambient condition was determined. The samples with three kinds of emitting layer (named as ADS5, ADS8 and MEH- PPV) were examined. The samples with ADS5 and ADS8 were stored in the lowered humidity of air conditions. However, the samples with MEH-PPV were ageing in climatic chamber. The characteristics curren- voltage for fresh and ageing samples in the range of voltage from 0 V to 20 V were made. They stated, that irrespective of the manner of storage, samples were undergoing the degradation. The decrease in value of the current density was registered. That was about 42% after 2700 -3000 hours (at tension 15 V) for the samples with ADS5 and ADS8, and about 92% after 100 hours for the samples stored in climatic chamber (with MEH-PPV).

18

Wpływ trawienia na właściwości powierzchni tlenku indowo-cynowego (ITO)

Araźna A., Janeczek K., Kozioł G., Futera K., Stęplewski W.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 4

82-84

PL

W pracy oceniano właściwości powierzchni warstw tlenku indowo- cynowego (ITO) poddanych różnym sposobom przygotowania podłoża. Określano wartości kąta zwilżania i swobodnej energii powierzchniowej próbek warstw ITO. Zastosowano trzy sposoby przygotowania powierzchni ITO: czyszczenie w płuczce ultradźwiękowej w acetonie i alkoholu etylowym w temperaturze otoczenia, czyszczenie w roztworze amoniakalnym w temperaturze 60°C oraz wygrzewanie w tlenowej plazmie wyładowania jarzeniowego pod ciśnieniem 0,1 x 10 ⁻³ Ba. Wyniki badań wykazały że właściwości powierzchni ITO ściśle zależą od zastosowanego sposobu przygotowania podłoża. Stwierdzono, że spośród badanych najbardziej efektownym sposobem przygotowania powierzchni ITO jest trawienie w tlenowej plazmie wyładowania jarzeniowego. Dla próbek czyszczonych tym sposobem uzyskano znaczący wzrost wartości energii powierzchniowej od 23,4 mJ/m² do 66,7 mj/m². Oznacza to, że ten sposób trawienia był najbardziej efektywny spośród badanych i czynił powierzchnię warstw ITO najbardziej hydrofilową.

EN

In this work, a study of the surface properties of treated indium tin oxide (ITO) substrates was made. The surface characteristics of ITO thin films are investigated by contact angle and surface free energy (SFE) measurements. We used three differenf cleaning treatments among others: washing in an ultrasonic bath of acetone and ethyl alcohol (R1) in room temperature, dipping into alkaline solution at 60°C as well as oxygen glow discharge under pressure 0.1x10⁻³ Ba. Experimental results show that the ITO surface properties are closely related to the treatment methods. We stated that the most efficient cleaning treatment was oxygen glow discharge. This way of treatment yields the highest surface energy (66.7 mJ/ m2) and brings about the maximum reduction in contact angles of ITO substrates. It means that this manner of the etching was most effective and made the most hydrophilic surface of ITO layers.

19

Porównanie pomiarów chropowatości tlenku indowo-cynowego (ITO) mikroskopem sił atomowych i profilometrem optycznym

Janeczek K., Araźna A., Futera K., Kozioł G., Stęplewski W., Lipiec K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 4

84-86

PL

Warstwa tlenku indowo-cynowego (ITO) naniesiona na podłoże giętkie lub sztywne znajduje obecnie zastosowanie do wytwarzania organicznych diod elektroluminescencyjnych (OLED) lub organicznych ogniw fotowoltaicznych (OPV). Zazwyczaj przed nałożeniem warstw funkcjonalnych wykonywanej struktury, ITO jest poddawane czyszczeniu. W artykule opisano wyniki badań chropowatości warstwy ITO metodą mikroskopii sił atomowych i profilometrii optycznej. Badane próbki przed pomiarami poddano czyszczeniu alkalicznemu lub czyszczeniu w acetonie i alkoholu etylowym lub alkoholu izopropylowym. Niezależnie od zastosowanej techniki pomiarowej wszystkie metody przygotowania powierzchni ITO powodowały wzrost jej chropowatości w stosunku do próbki w stanie dostawy. Stwierdzono również, że wartości chropowatości zmierzonej profilometrem optycznym były wyższe niż uzyskane mikroskopem sił atomowych.

EN

Indium tin oxide (ITO) layers evaporated on elastic or rigid substrates are currently used for manufacturing organic light-emitting diodes (OLED) or organie photovoltaic cells (OPV). Before functional layers of a fabricated device are deposited on ITO substrate its surface is usually cleaned. In this paper, the results of ITO layer roughness measurements by atomic force microscopy and optical profiler are reported. The specimens were treated with alkaline cleaning or ultrasonic degreasing in acetone and ethyl or isopropyl alcohol. Irrespective of measurement technigue all treatment methods lead to increase of ITO surface roughness when compared to the untreated sample. It was affirmed that the values of ITO roughness measured with optical profilometry were higher than measured with atomic force microscopy.

20

Pomiary właściwości elektrycznych polimerowych diod elektroluminescencyjnych

Stęplewski W., Kozioł G., Araźna A., Janeczek K., Futera K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 4

126-129

PL

W artykule opisano wyniki badań polimerowych diod elektroluminescencyjnych dotyczące doboru związku emitującego światło, badań starzeniowych i badań procesu hermetyzacji. W badaniach wykorzystano pomiary elektryczne do wyznaczania przebiegu charakterystyk prądowo-napięciowych i gęstości prądu w celu testowania jakości i trwałości wytworzonych struktur diod.

EN

In this paper, the results of studies on polymer light emitting diodes, such as emitting compound selection, aging tests and encapsulation process, were described. Electrical measurements were mainly used to determine current-voltage characteristics and current density what makes possible to test quality and life time of the prepared OLED structures.