PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Effect of annealing on the structure of thermal evaporated In2S3 thin films
Gremenok V., Reddy K. T., Tivanov M., Patryn A.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2017
|
R. 93, nr 8
89--91
EN
Structural studies on In2S3 thin films deposited by vacuum thermal evaporation on glass substrates at a temperature of 240oC, followed by annealing at 330°C and 400°C are presented. It was shown that the films were of amorphous in nature before annealing and after annealing the films became polycrystalline and showed β- In2S3 structure. The grain size increased and followed the usual crystal growth process as the annealing temperature increased. The annealing-induced changes of surface roughness were characterized by atomic force microscopy.
PL
Przedstawiono wyniki badania struktury cienkich warstw In2S3 naniesionych metodą termicznego osadzenia na szkło w próżni w temperaturach od 240oC i kolejnym wygrzewaniem w temperaturach 330oC i 400oC. Ustalono że warstwy miały amorficzną naturę przed wygrzewaniem, po wygrzewaniu wykazywały strukturę polikrystaliczną typu β-In2S3. Rozmiar ziaren powiększał się na skutek aktywnej nuklearyzacji i to przyczyniało się do zwykłej krystalizacji ze wzrostem temperatury. Zmiany zostały przeanalizowane za pomocą AFM.
2
Content available remote The elemental composition, topography and wettability of Pb0.25Sn1.75S2 thin films
Tashlykov I., Turavets A., Gremenok V., Zhukowski P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 3b
285--287
EN
PbSnS thin films were prepared by hot-wall vacuum evaporation (HWVE) and effect of substrate temperature on structural and surface morphological properties was thoroughly investigated by means of Rutherford backscattering spectroscopy, atomic force microscopy and water contact angle techniques, respectively.
PL
Cienkie wartwy PbSnS były wytwarzane metodą naparowania (HWVE). Badano wpływ temperatury podłoża na właściwości warstwy metodą spektroskopii Rutherforda i mikroskopem sił atomowych .
3
Content available remote Topography and water wettability of HWVD produced (Pb,Sn)S2 thin films for solar cells
Tashlykov I., Turavets A., Gremenok V., Bente K., Unuchak D.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 7
118-121
EN
Pb0,5Sn1,5S2 thin films were prepared by hot-wall vacuum deposition (HWVD) and effect of substrate temperature on structural and surface morphological properties was thoroughly investigated by means of X-ray diffraction, scanning electron microscopy, atomic force microscopy and water contact angle techniques, respectively. It is seen that contact angle measurements on (Pb,Sn)S2 films can be used to assess the quality of these materials prior to device fabrication
PL
Cienkie warstwy Pb0,5Sn1,5S2 wytworzono metodą gorącej ścianki. Metodami dyfrakcji promieni rentgenowskich, skaningowej mikroskopii elektronowej, mikroskopii sił atomowych i kąta zwilżania zbadano wpływ temperatury podłoża na strukturę i morfologię cienkich warstw. Ustalono, że badania kąta zwilżalności mogą być przydatne do określenia jakości warstw wykorzystywanych w ogniwach słonecznych.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.