Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2022

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Design of prototype readout integrated circuit for time-of-arrival and time-over-threshold measurement for hybrid pixel X-ray detectors in 28 nm CMOS

Kadłubowski Łukasz A., Kmon Piotr

Przegląd Elektrotechniczny

2022

R. 98, nr 2

106--109

This paper introduces the design and simulation results of a chip prototype dedicated for time-of-arrival (ToA) and time-over-threshold (ToT) measurement of X-ray photons. It consists of 8×4-pixel matrix with 50 μm pitch. Vernier time-to-digital converter with two ring oscillators is implemented in each pixel and aimed ToA resolution is on the order of tens of picoseconds. The chip may work in ToA/ToT mode or single photon counting mode. It is currently in fabrication.

Artykuł przedstawia projekt i wyniki symulacji prototypowego scalonego układu odczytowego do pomiaru czasu uderzenia (ToA) oraz pośredniego pomiaru energii (ToT) fotonów promieniowania X. Układ zawiera matrycę 8×4 pikseli. Piksel ma wymiary 50 μm × 50 μm i zawiera przetwornik czas-cyfra w architekturze Verniera z dwoma oscylatorami pierścieniowymi. Planowana rozdzielczość pomiaru ToA jest rzędu dziesiątek pikosekund. Układ może pracować w trybie ToA/ToT lub w trybie zliczania pojedynczych fotonów. Aktualnie jest w produkcji.