Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2021

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Coupled circuit method applied to the detection of defects in a conductive multilayer device

Bouali Ferroudja, Mohellebi Hassane, Yousfi Ghania

Przegląd Elektrotechniczny

2021

R. 97, nr 3

106--112

The work present the coupled circuit method applied to an eddy current nondestructive testing (EC-NDT) problems. The device is consisting on a conductive multilayer structure having an air gap (delamination), or a physical defect (lack of material). The purpose of the study is to identify the presence of the delamination when a physical defect can occur simultaneously. The use of Coupled Circuits Method permits to reduce the discretization to only the active parts without mesh air gap. The results obtained are compared to finite elements ones. A good agreement is observed between results. Interesting and useful conclusions are made.

W pracy przedstawiono metodę obwodów sprzężonych zastosowaną do badań nieniszczących prądów wirowych (EC-NDT). Urządzenie składa się z przewodzącej konstrukcji ze szczeliną powietrzną (rozwarstwieniem) lub wadą fizyczną (brak materiału). Celem badania jest identyfikacja obecności rozwarstwienia, gdy jednocześnie może wystąpić wada fizyczna. Zastosowanie metody obwodów sprzężonych pozwala zredukować dyskretyzację tylko do aktywnych części bez siatkowej szczeliny powietrznej. Uzyskane wyniki porównuje się z wynikami elementów skończonych. Obserwuje się dobrą zgodność wyników.