Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Crystallographic properties of the HgCdTe layers grown by MBE on CdZnTe(211)B substrates

Rogalska Iwona, Ruszała Marta, Grendysa Jakub, Juś Anna, Wojnarowska-Nowak Renata, Marchewka Michał, Wojtowicz Tomasz

Opto-Electronics Review

2025

Vol. 33, No. 1

art. no. e153809

A review of the specificity of the growth Hg₁-𝑥Cd𝑥Te layers by molecular beam epitaxy (MBE) and results of experimental studies of several Hg₁-𝑥Cd𝑥Te layers grown on Cd𝑦Zn1-𝑦Te (CZT) substrates are presented. It is well known that the performance of Hg₁-𝑥Cd𝑥Te -based detectors strongly depends on the substrate material and its orientation. CZT substrates are among the most commonly used due to their very good lattice match with Hg₁-𝑥Cd𝑥Te absorber material with different Cd content. In the present work, the authors focused on optimizing the MBE growth parameters in order to obtain the best possible crystalline quality of Hg₁-𝑥Cd𝑥Te layers grown on CZT substrates with (211)B orientation, in particular in terms of minimizing the number of defects. Experimental results of the selected structures showed that the obtained undoped Hg₁-𝑥Cd𝑥Te layers of different x have high crystallographic and optical quality, as well as good surface morphology. In particular, high-resolution X-ray diffraction (HRXRD) measurements and their analysis showed that the best structure has a full width at half maximum of rocking curve (FWHM𝑅𝐶) as low as 21.5 arcsec, and that the intensity distribution of diffraction peaks does not indicate the influence of mosaicisity and dislocation density.

Zastosowanie metody EPR w badaniach wybranych materiałów stosowanych na rdzenie i formy ceramiczne do odlewów precyzyjnych

Rogalska Iwona

Inżynieria Materiałowa

2024

Vol. 45, nr 6

24--29

Wykazano przydatność metody elektronowego rezonansu paramagnetycznego (zwanego dalej EPR) do oceny defektów i zanieczyszczeń jonami Cr i Fe w materiałach stosowanych na rdzenie i formy ceramiczne do odlewów precyzyjnych. Przeprowadzono badania mające na celu poprawę jakości rdzeni i form ceramicznych, co bezpośrednio wpływa na jakość finalnego produktu do bezpośredniego zastosowania w przemyśle lotniczym. Na podstawie przeprowadzonych pomiarów zależności temperaturowych widm elektronowego rezonansu paramagnetycznego proszków Al2O3, ZrO2 oraz mulitu w ykryto zanieczyszczenia domieszkami magnetycznymi, k tóre dla standardowych metod, np. dyfrakcji rentgenowskiej, są niezauważalne. Przeprowadzone badania wykazały, że spektroskopia elektronowego rezonansu paramagnetycznego jest uniwersalną techniką, umożliwiającą uzyskanie cennych informacji dotyczących różnorodnych układów paramagnetycznych. Sprzyjają temu: wysoka czułość pomiarowa, selektywność, stosunkowo krótki czas pomiaru, a także nieskomplikowana preparatyka próbek.

The effectiveness of the electron paramagnetic resonance (EPR) method in detecting defects and Cr, Fe ion contamination in materials used for ceramic cores and molds in precision casting was demonstrated. Research was conducted to enhance the quality of these ceramic cores and molds, directly impacting the final product’s quality for use in the aviation industry. By analyzing the temperature-dependent EPR spectra of Al2O3, ZrO2, and mullite powders, magnetic impurities were identified that are undetectable by standard methods, such as X-ray diffraction. The studies showed that EPR spectroscopy is a versatile technique that provides valuable information on various paramagnetic systems. This is due to its high measurement sensitivity, selectivity, relatively short measurement time, and straightforward sample preparation.