Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Shutterless method for gain nonuniformity correction of microbolometer detectors

Olbrycht R., Więcek B. B., Świątczak T.

Przegląd Elektrotechniczny

2010

R. 86, nr 11a

120-122

In this paper the new method of gain non-uniformity correction of microbolometer detectors is presented. The principle of this method is based on using an additional source of infrared radiation, which provides the excitation to the detector in parallel with the radiation of observed scene. The response of the detector to the excitation is calculated using frequency analysis, and it contains the information about the detector’s gain non-uniformity. This method enables a thermal camera to perform a live gain correction without using a shutter.

W artykule została zaprezentowania nowa metoda korekcji niejednorodności wzmocnienia detektorów mikrobolometrycznych stosowanych w kamerach termowizyjnych. Metoda bazuje na wykorzystaniu promiennika podczerwieni jako źródła dodatkowego promieniowania podczerwonego. Analiza częstotliwościowa odpowiedzi detektora pozwala otrzymać informację o niejednorodności wzmocnienia.