Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Investigations of optical and thermal properties of surface layers of Cd1-xBexTe samples by the photoacoustic method

Bychto Leszek, Maliński Mirosław, Chrobak Łukasz, Zakrzewski Jacek, Boumhamdi Mohammed

Opto-Electronics Review

2024

Vol. 32, No. 2

art. no. e150186

The work presents the results of a research on the photoacoustic spectra of thin surface layers of Cd₁-xBexTe crystals formed by grinding and polishing their surfaces. As a result of matching the theoretical and experimental photoacoustic spectra, thermal and optical parameters of these layers were determined. Thermal parameters of the surface layers, such as thermal conductivity and thermal diffusivity, turned out to be much worse than the analogous parameters of the substrate. The increase in the optical absorption of surface layers for photon energies below Eg was also determined.

Design and evaluation of a low-cost solar simulator and measurement system for low-power photovoltaic panels

Walczak Marcin, Bychto Leszek, Kraśniewski Jarosław, Duer Stanisław

Metrology and Measurement Systems

2022

Vol. 29, nr 4

685--700

Research related to photovoltaic panels comprises different topics starting with modelling solar cells, finding new maximum power point tracking (MPPT) algorithms, testing existing ones or designing of DC/DC converters for MPPT systems and microgrids that incorporate photovoltaic energy sources. In each of the examples above a deep knowledge of photovoltaic panels is required, as well as a reliable measurement system that can deliver continuous, stable light with enough power to meet standard test conditions (STC) and that can ensure repeatable results. Therefore this paper presents a low-cost solar simulator with a microcontroller-based measurement system, that can be used for various measurements of low-power photovoltaic panels.

Możliwości oraz obszar zastosowań małogabarytowego spektrometru DLP NIRScan Nano do błyskawicznych pomiarów spektralnych

Gąsiorowski Marek, Patryn Aleksy, Bychto Leszek

Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej

2019

Nr 15

57--70

Zmodyfikowana wersja minispektrometru typu DPL NIR Scan została testowo zastosowana w laboratoriach oraz w warunkach mobilnych do analizy różnych materiałów. Jako testowa została wybrana seria obiektów badawczych w postaci głównie obiektów organicznych. Metoda pomiarowa i zastosowane urządzenie z powodzeniem może być zastosowane również do badania różnorodnych cienkowarstwowych materiałów półprzewodnikowych, ze względu na zakres pomiarowy. Badania wstępne już wykonane na innych obiektach, w tym z grupy materiałów stosowanych w elektronice, m.in. filmów półprzewodnikowych i nanokompozytowych, rokuje perspektywistyczność poszerzenia grupy obiektów pomiarowych też i na materiały z tej grupy. Za pomocą urządzenia można tworzyć bazy danych pomiarowych, które później mogą być wykorzystywane do diagnostyki badanych obiektów, w tym zmian w dziedzinie czasu lub na etapach obróbki technologicznej.

A modified version of the DPL NIR Scan type mini-spectrometer was tested in laboratories and in mobile conditions for the analysis of various materials. A series of research objects in the form of mainly organic objects was chosen as the testing probes. The measuring method and the device used can also be successfully used for testing various thin-film semiconductor materials, due to the measuring range. Preliminary tests already performed on other objects, including from the group of materials used in electronics, among others semiconductor and nanocomposite films, promising the prospect of expanding the group of measurement objects also for materials from this group. Using the device, it is possible to create measurement databases that can later be used to diagnose the examined objects, including changes in the time domain or at the stages of technological processing.