Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Ochrona przed Korozją

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: zinc layer microstructure

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie nowoczesnych metod badawczych w analizie mikrostruktury powłok cynkowych

Płocińska M., Płociński T., Szawłowski J., Kurzydłowski K. J.

Ochrona przed Korozją

2011

nr 2

36-39

Rozwój nowoczesnych metod badawczych, w połączeniu z coraz powszechniejszym dostępem do nich, pozwala na uzyskanie pełniejszego spojrzenia na budowę materiałów warstwowych takich jak powłoki cynkowe. Zastosowanie szeregu technik, umożliwiających analizowanie elementów mikrostruktury materiału w różnej skali, pozwala zobrazować wszystkie jej elementy, co daje możliwość właściwej interpretacji mechanizmów zachodzących na etapie powstawania powłok cynkowych. Proces cynkowania zanurzeniowego zachodzi na tyle szybko, że obecnie prowadzone badania opierają się głównie na analizie mikrostruktury już powstałych powłok. Klasyczne podejście do analizy właściwości powłok cynkowych oparte jest na wynikach obserwacji wykonanych na przekroju poprzecznym, przy użyciu mikroskopii świetlnej. Technika ta w zadowalający sposób przedstawia złożoną budowę powłoki, ujawniając poprzez chemiczne trawienie granice międzyfazowe. Jednak w celu pełnego scharakteryzowania budowy powłoki, konieczne jest zastosowanie innych technik takich jak skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa (STEM), skaningowa mikroskopia jonowa (SIM), których wykorzystanie gwarantuje zobrazowanie struktury w pełnym zakresie. Równie ważna w badaniu powłok cynkowych jest możliwość wykonania dokładnej analizy fazowej powłok cynkowych, którą jest najlepiej wykonywać przy wykorzystywaniu silnych źródeł promieniowania uzyskiwanego np. w synchrotronie. W niniejszej pracy przedstawiono opis szeregu różnych technik badawczych oraz wyniki obrazujące mikrostrukturę powłok cynkowych. Przedstawione wyniki pozwalają na uzyskanie nowego, pełniejszego spojrzenia na budowę powłoki cynkowej.

Common use and development of novel investigations technique is useful to get complementary information on zinc layers microstructure. Different techniques application, which are able to analyze materials microstructure in wide range of scale, give possibility to imaging all microstructure elements. That kind results are easier for interpretation of zinc layer growth mechanism. Zinc layer formation in hot-dip zinc galvanizing technique is growing too fast to analyze it, so most of results are present microstructure after layer formation. Classical approach to properties analysis of zinc layer is based on cross-section microstructure observations by application of light microscopy. This technique is useful for investigation of zinc layers complicated structure. Microstructure of different phases is revealed by chemical etching. However for complete characterization of the zinc layer microstructure, it is necessary to apply other techniques like Scanning Electron Microscopy (SEM), Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM), Focused Ion Beam (FIB). These techniques are more suitable for microstructure investigations in wide range of scale. Sophisticated phase analysis are also important during zinc layer investigations. That investigations are possible with synchrotron radiation. This paper contains description of different techniques and results which revealed zinc layer microstructure. Presented results can be used for novel approach on zinc layer composition.