Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Wstępne badania w celu opracowania nowej metody wzorcowania czytników mikropłytek w GUM – analiza porównawcza wyników

Matkowska Dobrochna, Ostrowska Iwona, Gębicka Jolanta, Litwiniuk Łukasz

Metrologia i Probiernictwo : biuletyn Głównego Urzędu Miar

|

2019

|

nr 2 (23)

27--31

PL

W najbliższych latach Samodzielne Laboratorium Fotometrii i Radiometrii planuje opracowanie metody pomiarowej i budowę stanowiska pomiarowego do wzorcowania czytników mikropłytek i ich wzorców kontrolnych, czyli stworzenie mechanizmów powiązania wzorca pierwotnego widmowego współczynnika przepuszczania (spektrofotometr Cary 5000) z grupą nowoczesnych przyrządów spektrofotometrycznych – czytników mikropłytek.

EN

In the coming years, it is planned to develop measurement methods and measurement stand for the calibration of microplate readers and control standards thereof i.e. to create mechanisms linking the spectral transmittance with reference to the primary measurement standard (Cary 5000 spectrophotometer) with a group of modern spectrophotometric devices – microplate readers.

2

Realizacja wzorca pierwotnego ciśnienia akustycznego w Głównym Urzędzie Miar

Dobrowolska D.

Metrologia i Probiernictwo : biuletyn Głównego Urzędu Miar

|

2016

|

nr 1 (12)

15--22

PL

W artykule przedstawiono stanowisko pomiarowe w Głównym Urzędzie Miar stosowane do wzorcowania mikrofonów metodą wzajemności, które razem z zestawem laboratoryjnych mikrofonów wzorcowych tworzy wzorzec pierwotny ciśnienia akustycznego. Stanowisko umożliwia wyznaczanie poziomu skuteczności ciśnieniowej mikrofonów klasy LS1, w zakresie częstotliwości od 2 Hz do 10 kHz i poziomu skuteczności ciśnieniowej mikrofonów klasy LS2, w zakresie częstotliwości od 20 Hz do 20 kHz, z najlepszą osiągalną niepewnością pomiarową: 0,03 dB. Stosowana metoda pomiarowa jest zgodna z wymaganiami normy IEC 61094-2:2009. W artykule zaprezentowano również przykłady wyników uzyskiwanych w latach 1999–2014, obrazujących stabilność mikrofonów wzorcowych. Równoważność wzorca pierwotnego utrzymywanego w GUM była wielokrotnie potwierdzana międzynarodowo poprzez uczestnictwo w porównaniach kluczowych organizowanych przez Międzynarodowy Komitet Miar (CIPM) i Regionalne Organizacje Metrologiczne: EURAMET, COOMET i AFRIMETS. Artykuł podaje przykłady wyników porównań odnoszące się do polskiego wzorca pierwotnego ciśnienia akustycznego.

EN

In the paper the measurement setup used for this purpose at the Central Office of Measures, which together with the set of laboratory standard microphones composes the primary standard of sound pressure is described. It enables to determine the pressure sensitivity level of class LS1 microphones in the frequency range 2 Hz to 10 kHz and the pressure sensitivity level of LS2 microphones in the frequency range 20 Hz to 20 kHz with the best available measurement uncertainty of 0,03 dB. The measurement method used conforms to the requirements of IEC 61094-2:2009. The results obtained in the years 1999–2014, demonstrating the stability of standard microphones, are also presented. The equivalence of the primary standard used at the GUM was confirmed many times internationally through the participation in key comparisons organised by the International Committee for Weights and Measures (CIPM) and Regional Metrology Organizations: EURAMET, COOMET and AFRIMETS. The examples of the comparisons results referring to the Polish primary standard of sound pressure are given in the paper.

3

Comparisons of quantum phenomena based electrical quantities standards

Dudek E., Orzepowski M., Tatar A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 6

35-38

PL

Dla wielu pomiarów w dziedzinie napięcia elektrycznego i rezystancji wymagana jest spójność pomiarowa do wzorców pierwotnych. Stanowiska pomiarowe, wykorzystujące wzorce najwyższego rzędu, umiejscowione są w Narodowych Instytutach Metrologicznych. Wzorce pierwotne napięcia elektrycznego stałego i rezystancji, bazujące na kwantowym efekcie Josephsona i kwantowym efekcie Halla, pozwalają odtwarzać jednostkę wyłącznie w oparciu o niezmienne stałe fizyczne. Wszystkie kwantowe wzorce pierwotne mają równy i najwyższy status w hierarchii wzorców, nie ma więc potrzeby przeprowadzania porównań w celu zapewnienia spójności pomiarowej, przeprowadza się je jednak dla udowodnienia poprawności przeniesienia jednostki na wzorce niższego rzędu. Artykuł przedstawia wyniki międzynarodowych dwustronnych porównań w dziedzinie napięcia i rezystancji, w których brało udział Laboratorium Wzorców Wielkości Elektrycznych Głównego Urzędu Miar.

EN

Traceability to primary standards is required for many measurements in the field of electrical voltage and resistance. These measurement systems are operated in National Metrology Institutes (NMIs). Primary voltage and resistance standards are based on quantum phenomena. Reproduction of these units is linked with physical constants. Conventional values of constants are worldwide approved. Primary standards have equal, highest status in standards hierarchy, so there is no possibility to calibration of them versus more accurate representations of units. In principle, quantum standards do not need comparisons for traceability. In reality, comparisons are required to demonstrate that calibrations are really correct. This article presents international comparison system on field of voltage and resistance measurement. Key, supplementary and bilateral comparisons are characterized. Results of this particular comparisons, where Laboratory of Electrical Quantities in Central Office of Measures in Poland has participated, are presented.