Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: wzorcowanie aparatury pomiarowej

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Nadzór nad badaniami mikrobiologicznymi produktów leczniczych. Cz. IV: Nadzór nad urządzeniami i sprzętem pomiarowym

Marczewska J.

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

2014

R. 19, nr 3

36--39

Efektywna metoda dopasowania danych wzorcowania przy niepewności obu zmiennych

Moszczyński L.

Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Mechanika

2005

z. 207

159--164

Zwykła metoda regresji liniowej jest stosowana w wielu obszarach badawczych np. przy wzorcowaniu silomierzy. Nie jest ona jednak zalecana jeśli występują biedy statystyczne obu mierzonych wielkości (x i J). Złożoność problemu utrudnia obliczenia, ale jak pokazano, problem ten może być rozwiązany poprzez wprowadzenie obliczeń iteracyjnych. Zaproponowany algorytm jest prostszy i szybszy niż algorytm Yorka. Użyto go do obliczeń prostej regresji z danych kalibracji.

The ordinary least square method (OLSM) for straight line fitting is commonly used in many areas of experimental research for example, in load cell calibration. However, this method is not effective when there are statistical errors in both the x and y coordinates. Although a general formalism requires some computational effort, the problem could, in principle, be solved iteractively. The new proposed algorithm is shorter and quicker than the York algorithm often used in this context. The new algorithm was validated in the calculation of the regression line for calibration data.