PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  wzorce materialne
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Wybrane zagadnienia stykowych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni
Adamczak S., Świderski J., Dobrowolski T.
Mechanik
|
2017
|
R. 90, nr 4
328--331
PL
Przedstawiono analizę wybranych czynników wpływających na uzyskiwane wartości parametrów chropowatości. Badania, przeprowadzone z wykorzystaniem wzorca materialnego typu PSS (periodic sinusoidal shape), polegały na wykonaniu pomiarów profilometrem stykowym z ostrzem odwzorowującym.
EN
The article presents an analysis of selected factors affecting obtained values of roughness parameters of surface texture. The study was conducted by applying a material standard of PSS (periodic sinusoidal shape) type and for measurements carried out with the use of stylus instrument.
2
Content available remote Analiza wpływu gęstości próbkowania poziomego na parametry chropowatości
Adamczak S., Świderski J., Dobrowolski T.
Mechanik
|
2017
|
R. 90, nr 4
332--334
PL
Przedstawiono analizę wpływu gęstości próbkowania poziomego na wartości parametrów chropowatości profilu wzorca materialnego typu PSS (periodic sinusoidal shape) uzyskiwane w pomiarach wykonywanych profilometrem stykowym z ostrzem odwzorowującym oraz dla opracowanego wzorca programowanego.
EN
The article presents an analysis of the impact of the horizontal sampling density on obtained values of roughness parameters of material roughness standard of PSS (periodic sinusoidal shape) type for measurements conducted with the use of stylus instrument and for developed software measurement standard.
3
Content available remote Wzorce materialne do kalibracji przyrządów do pomiarów stereometrii powierzchni
Świderski J.
Mechanik
|
2016
|
R. 89, nr 11
1660--1661
PL
W artykule przedstawiono charakterystyki metrologiczne grupy nowych wzorców materialnych przeznaczonych do kalibracji przyrządów stykowych i optycznych do pomiarów struktury geometrycznej powierzchni.
EN
The article presents the metrological characteristics of the new material measures intended for calibration of optical and contact instruments for measuring of surface texture.
4
Zachowanie spójności pomiarowej w dziedzinie nanometrologii wymiarowej
Smereczyńska B.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2006
|
Vol. 47, nr 5
47-50
PL
Opracowanie przybliża problematykę związaną z zachowaniem spójności w dziedzinie nanometrologii wymiarowej (obejmującej pomiary struktur i obiektów wykonywane głównie za pomocą mikroskopów SPM) przez przeprowadzenie międzynarodowych porównań (nanocomparisons) specjalnych wzorców materialnych, służących do wzorcowania tego typu przyrządów. Dokładniej omówiono porównanie Nano2, w którym uczestniczył Główny Urząd Miar.
EN
The present article brings closer the problems connected with an assurance of traceability in the field of dimensional nanometrology (containing the measurements of structures and artefacts, which are carried out mainly with the SPM microscopes) through execution of international comparisons (the Nano comparisons) of special material standards used to calibration of this type instruments. The comparison Nano2, in which among others Central Office of Measures (GUM) participated, was discussed more detailed.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.