Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: wzór Scherrera

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Określenie struktury krystalicznej oraz wielkości ziaren nanokrystalicznych próbek związku La[0.7]Sr[0.3]O[3]

Dul M., Bażela-Wróbel W.

Czasopismo Techniczne. Nauki Podstawowe

2010

R. 107, z. 1-NP

71-91

Celem artykułu było określenie struktury krystalicznej trzech nanokrystalicznych próbek związku La[0.7]Sr[0.3]MnO[3] otrzymanych metodą zol-żel. Temperatury prażenia żelu wynosiły, odpowiednio: 600, 800 i 1000[stopni]C, co prowadziło do otrzymania próbek o różnych rozmiarach ziaren (od 17 do 90 nm). Za pomocą rentgenowskiej dyfraktometrii proszkowej wyznaczono stałe sieciowe komórki elementarnej i parametry pozycyjne atomów oraz z poszerzenia maksimów dyfrakcyjnych rozmiary ziaren (relacja Scherrera).

Crystal structure of three nanopowders La[0.7]Sr[0.3]MnO[3] carried out by sol-gel method were determined. The annealing temperatures were: 600, 800 and 1000[degrees]C. The nanopowders with the average particle size from 17 to 90 nm were obtained. The constans of elementary cell, position parameters of atoms and grain sizes using the broading of diffraction lines (Scherrer's relation) have been obtained.

Identification of nanostructure in aluminium alloys by X-ray diffraction

Żelechowski J., Kłyszewski A.

Archives of Metallurgy and Materials

2008

Vol. 53, iss. 1

301-305

A number of physical properties of polycrystalline materials, including the mechanical properties, greatly depend on grain size and therefore grain size is a very important parameter in the technology of modern structural materials. Adaptation of optical microscopy in evaluation of crystallite size is frequently limited by basic parameters of this technique, and the result represents only a small area of the specimen surface. Therefore, it has been decided to use an alternative method in evaluation of the crystallites size. The method determines the width of the X-ray diffraction reflections according to a relationship expressed by Scherrer's formula. Easy analysis of the large material volume seems to be significant advantage of this method. The size of the crystallites was calculated by mathematical modelling of the profiles of small-angle diffraction reflections obtained by the Bragg-Brentano technique. The applicability range of this method was established along with the conditions indispensable for its correct application. The described method was used to determine the size of crystallites in the selected aluminium products, in ribbons made by the process of rapid solidification, and in nanometric materials prepared from commercial aluminium alloys. The results obtained were compared with optical microscopy and transmission electron microscopy, and showed enough by the X-ray measurement satisfactory consistency of the measured quantities.

Wiele własciwości fizycznych, w tym właściwości mechaniczne materiałów polikrystalicznych w istotny sposób zależą od wielkości ziarna i dlatego rozmiar ziarna jest znaczącym parametrem w technologii nowoczesnych materiałów konstrukcyjnych. Zastosowanie mikroskopii świetInej do oceny wielkości krystalitów jest ograniczone możliwościami technicznymi, a wynik uzyskiwany jest z niewielkiego obszaru powierzchni próbki. Do oceny wielkości krystalitów przyjęto metodę alternatywną, poddającą analizie szerokość rentgenowskich refleksów dyfrakcyjnych zgodnie z zależnością wyrażoną wzorem Scherrera. Niekwestionowaną zaletą metody dyfrakcyjnej jest łatwość analizy znacznej objętości materiału. Pomiar wielkości krystalitów zrealizowano przy użyciu modelowania matematycznego profili niskokątowych refleksów dyfrakcyjnych (111) uzyskanych w technice Bragg-Brentano. Określono również zakres stosowalności metody i warunki niezbędne do prawidłowego jej użycia. Opisaną metodą oznaczono wielkość krystalitów w wybranych wyrobach aluminiowych, w taśmach wytwarzanych metodą szybkiej krystalizacji oraz w nanometrycznych preparatach sporządzonych z komercyjnych stopów aluminium. Uzyskane wyniki zweryfikowano przy użyciu mikroskopii świetInej i elektronowej wykazując zadowalającą zgodność oceny mierzonych wielkości.