Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: wielowymiarowa przestrzeń poszukiwań

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits

Kyzioł P., Grzechca D., Rutkowski J.

Przegląd Elektrotechniczny

2010

R. 86, nr 11a

251-255

In this paper a new testing method of an analogue electronic circuits is presented. The method is based on the idea of using multidimensional search space in order to increase testability and observability of the circuit under test (CUT). Heuristic algorithm particle swarm optimization (PSO) has been applied for continuous optimization problem. Practical example is considered and results shows that using more than one dimension during test of CUT can significantly improve number of unequivocally located states of CUT.

W tym artykule nowa metoda testowania analogowych układów elektronicznych została zaprezentowana. Metoda testowania wykorzystuje wielowymiarową przestrzeń poszukiwań. Zaprezentowane rezultaty badań wyraźnie pokazują, że użycie więcej niż jednego wymiaru podczas testowania układu elektronicznego pozwala na zwiększenie liczby jednoznacznie lokalizowanych stanów testowanego układu.