Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Spektroskopia Ramana w zakresie niskich częstotliwości w badaniach materiałów wybuchowych

Liszewska Malwina, Bartosewicz Bartosz, Budner Bogusław, Szala Mateusz, Miczuga Marcin, Kopczyński Krzysztof, Jankiewicz Bartłomiej J.

Przemysł Chemiczny

|

2020

|

T. 99, nr 10

1469--1476

PL

Spektroskopia Ramana stała się w ostatnich latach jedną z ważniejszych technik analitycznych znajdujących zastosowanie w różnych sektorach gospodarki. Wynika to z braku konieczności preparowania próbek do badań, krótkiego czasu pomiaru oraz łatwej identyfikacji badanych substancji na podstawie charakterystycznych widm ramanowskich. W rejestrowanym widmie nieelastycznie rozproszonego światła można wyróżnić zakres 200–4000 cm-1, który odzwierciedla strukturę chemiczną cząsteczki (widmo oscylacyjno-rotacyjne), tzw. odcisk palca, oraz zakres 5–200 cm-1, zwany zakresem niskich częstotliwości, który dostarcza informacji o drganiach sieci krystalicznej w ciele stałym (widmo fononowe). Przedstawiono podstawowe informacje dotyczące spektroskopii Ramana w zakresie niskich częstotliwości, jej możliwości pomiarowych i aplikacyjnych oraz dokonano przeglądu literatury na temat zastosowania tej techniki w badaniach materiałów wybuchowych.

EN

Fundamentals and review with 68 refs.

2

Effect of annealing on the structure of thermal evaporated In2S3 thin films

Gremenok V., Reddy K. T., Tivanov M., Patryn A.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2017

|

R. 93, nr 8

89--91

EN

Structural studies on In2S3 thin films deposited by vacuum thermal evaporation on glass substrates at a temperature of 240oC, followed by annealing at 330°C and 400°C are presented. It was shown that the films were of amorphous in nature before annealing and after annealing the films became polycrystalline and showed β- In2S3 structure. The grain size increased and followed the usual crystal growth process as the annealing temperature increased. The annealing-induced changes of surface roughness were characterized by atomic force microscopy.

PL

Przedstawiono wyniki badania struktury cienkich warstw In2S3 naniesionych metodą termicznego osadzenia na szkło w próżni w temperaturach od 240oC i kolejnym wygrzewaniem w temperaturach 330oC i 400oC. Ustalono że warstwy miały amorficzną naturę przed wygrzewaniem, po wygrzewaniu wykazywały strukturę polikrystaliczną typu β-In2S3. Rozmiar ziaren powiększał się na skutek aktywnej nuklearyzacji i to przyczyniało się do zwykłej krystalizacji ze wzrostem temperatury. Zmiany zostały przeanalizowane za pomocą AFM.

3

Charakterystyka spektralna mezoporowatych węgli z nanocząstkami Ag, Au, TiO2 i Fe3O4

Garnuszek M., Szczepanik B., Gawinkowski S., Słomkiewicz P., Witkiewicz Z., Jedynak K.

Ochrona Środowiska

|

2012

|

Vol. 34, nr 4

17-22

PL

Określono możliwość zastosowania technik spektroskopowych do charakterystyki właściwości strukturalnych mezoporowatego węgla otrzymanego metodą miękkiego odwzorowania oraz zmodyfikowanego za pomocą nanocząstek Ag, Au, TiO2 i Fe3O4. Charakterystykę spektralną próbek otrzymanych węgli przeprowadzono techniką spektroskopii IR, FTIR oraz Ramana. Podczas syntezy materiałów węglowych w środowisku kwasowym zastosowano rezorcynol i formaldehyd jako prekursory węglowe w obecności kopolimeru trójblokowego Lutrol F127. Wyniki badań spektralnych wykazały, że zastosowane metody syntezy mezoporowatych węgli pozwoliły na uzyskanie materiałów węglowych o odtwarzalnej budowie. Modyfikacja powierzchni węgla badanymi nanocząstkami spowodowała wyraźne zmiany w widmach Ramana, FTIR i IR kompozytów węglowych, przy czym na zmianę ich właściwości najsilniej wpłynęły tlenki metali. Widma te pokazały również, że w strukturze otrzymanych materiałów węglowych pojawiły się uporządkowane fragmenty grafenowe podobne do tych, jakie występują w nanorurkach węglowych.

EN

The structural properties of mesoporous carbons modified by Ag, Au, TiO2 and Fe3O4 nanoparticles were studied using IR, FT-IR and Raman spectroscopy. The carbon materials were prepared by the soft-templating method in an acidic medium, with resorcinol and formaldehyde as the carbon precursors and triblock copolymer Lutrol F127 as a soft template. Spectral analysis has revealed that these carbons are characterized by a repeatable structure. The modification of the carbon surface by the nanoparticles examined has caused some noticeable changes in the Raman, FT-IR and IR spectra of the carbon composites, and most of the influence on the modification of the surface comes from metal oxides. The spectra have also shown that the carbon materials tested contain some ordered fragments of graphene structures similar to those occurring in carbon nanotubes.

4

Twarde powłoki ta-C otrzymane metodą impulsowego katodowego odparowania łukowego

Gilewicz A., Warcholiński B.

Inżynieria Materiałowa

|

2010

|

Vol. 31, nr 1

50-53

PL

Powłoki z tetraedrycznego węgla ta-C wolne od wodoru otrzymywano metodą impulsowego katodowego odparowania łukowego na podłożu ze stali SW7M i krzemie. Strukturę powłoki badano za pomocą spektrometru Rama- na przy wzbudzeniu promieniowaniem o długości fali 514,5 nm. Zawartość fazy sp3 w powłoce określono na około 40%. Pomiary mikrotwardości i modułu Younga wykonano na urządzeniu CSM Nano Indentation Tester. Otrzymano wyniki odpowiednio 45 GPa i 385 GPa na powłokach naniesionych na chromową podwarstwę. Adhezję szacowano metodą rysy i metodą Daimlera-Benza. Powłoki charakteryzują się dobrą przyczepnością do podłoża, siła krytyczna Lc2 wynosi 71 N. Pomiary współczynnika tarcia i zużycia wy- konano w układzie kula-płaszczyzna, względem przeciwpróbki wykonanej z alundu, na urządzeniu CSM Tribometer - TRB. Wyniosły one odpowiednio 0,093 i 1,3×10-16 m3/Nm. Naprężenia w powłoce mierzone metodą Stoney'a mają charakter ściskający i są niższe niż 2 GPa.

EN

The ta-C hydrogenfree coatings were deposited using pulsed cathodic arc evaporation on HSS steel and silicon. Film structure was investigated by Raman spectroscopy at 514.5 nm excitation wavelength (Fig. 1). Film micro- hardness as high as 45 GPa and elastic modulus as 385 GPa were obtained by CSM Nano Indentation Tester on films with the Cr interlayer. By scratch test film adhesion about 71 N was measured (Fig. 3÷5). The friction coefficient (Fig. 6) and wear rate were made in ball on disc configuration using CSM Tribometer - TRB and alundum as a counterpart. The results were respec- tively, 0.093 i 1.3×10-16 m3/Nm. By profilometry using Stoney formula we obtained residual compressive stress values not higher than 2 GPa in as-de- posited about 40% sp3 ta-C films.

5

Zastosowania spektroskopii Ramana w chromatografii cieczowej. Cz. 1

Kowalska T., Kowalik G., Rogosz K.

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

|

1999

|

R. 4, nr 2

9-11

6

Zastosowania spektroskopii Ramana w chromatografii cieczowej. Cz. 2

Kowalska T., Kowalik G., Rogosz K.

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

|

1999

|

R. 4, nr 3

6-8

7

The origin of the G-line in the CVD diamond Raman spectrum

Fabisiak K., Rozpłoch F.

Karbo

|

1998

|

Nr 1-2

66-67

EN

This work presents the Raman and ESR spectroscopy investigation performed on the different quality CVD diamond films. Particularly the origin of the so-called G-line in the CVD diamond Raman spectrum is discussed.

PL

Własności fizyczne cienkich warstw diamentowych otrzymywanych metodami CID bardzo silnie zależą od parametrów samego procesu CVD. Głównym czynnikiem mającym najsilniejszy wpływ na jakość warstw diamentowych jest koncentracja węglowodoru podczas wzrostu warstw diamentowych w procesie CID. Przedstawione są wyniki badań cienkich warstw diamentowych przy użyciu spektroskopii Ramana i ESR. Szczególna uwaga poświęcona została dyskusji pochodzenia tak zwanej linü G w widmie Ramana cienkich warstw diamentowych.