Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Surface Topology Reconstruction From The White Light Interferogram By Means Of Prony Analysis

Khoma A., Zygarlicki J.

Metrology and Measurement Systems

|

2015

|

Vol. 22, nr 4

479--490

EN

The paper presents a new method of surface topology reconstruction from a white light interferogram. The method is based on interferogram modelling by complex exponents (Prony method). The compatibility of white light interferogram and Prony models has already been proven. Effectiveness of the method was tested by modelling and examining reconstruction of tilted and spherical surfaces, and by estimating the reconstruction accuracy.

2

Zastosowanie koherencyjnej interferometrii korelacyjnej do pomiarów topografii powierzchni

Kapłonek W., Łukianowicz Cz.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2010

|

R. 86, nr 10

43-46

PL

Do dokładnej oceny topografii powierzchni często stosuje się metody interferencyjne wykorzystujące światło białe. W referacie przedstawiono metodę opartą na analizie maksymalnej wartości stopnia koherencji czasowej dwóch interferujących fal. Analiza ta jest dokonywana jednocześnie w wielu punktach badanej powierzchni. Metoda ta ma wiele zalet, takich jak szeroki zakres pomiarowy, wysoka dokładność i krótki czas pomiaru. W artykule zaprezentowano wyniki pomiarów topografii różnorodnych powierzchni otrzymane za pomocą tej metody.

EN

White light interferometry have been commonly used for evaluation of engineering surfaces for a long time. Coherence correlation interferometry is new method, which is developed in the last ten years. The paper describes the principles of coherence correlation interferometry application for engineering surfaces topography evaluation. It is based on an analysis of the maximum value of the temporal degree of coherence of two interfering waves. The analysis takes place simultaneously in all surface points. This method has a number of advantages. Large measurement range, high accuracy and short measurement times are among the key features. The results of topography evaluation of various engineering surfaces performed with this method have been presented in the paper. CCI 6000 coherence correlation interferometer by Taylor Hobson was used to carry out the measurements. Accomplished analyses and tests have demonstrated that interference methods allow for a quick assessment and examination of fine machined surfaces. The coherence correlation interferometry becomes particularly useful for this purpose. This technique is employed in the measuring system Talysurf CCI 6000 providing a range of diverse ways of surface topography analysis. The end-user of the system acquires a digital image of the surface’s irregularities heights as the result of the measurement. This image is used in further production of topographic maps, axonometric surface images, surface profile diagrams and calculations of the surface topography parameters.

3

Analiza topografii powierzchni dyfrakcyjnych elementów optycznych z wykorzystaniem interferometrii światła białego

Kapłonek W., Tomkowski R.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2009

|

R. 55, nr 4

272-275

PL

W artykule przedstawiono możliwości oceny i analizy topografii powierzchni dyfrakcyjnych elementów optycznych za pomocą jednej z metod interferometrii światła białego. W badaniach wykorzystano próbkę zawierającą 8 elementów dyfrakcyjnych generujących wzory optyczne o kształtach linii, zbioru linii (poziomych i pionowych) oraz krzyża. Elementy oceniano pod względem geometrii ukształtowania powierzchni za pomocą systemu pomiarowego Talysurf CCI 6000 firmy Taylor Hobson. Zarejestrowane dane pomiarowe analizowano korzystając z oprogramowania Talymap Platinum. Wyniki badań potwierdziły dużą przydatność metody pomiarowej, jak i zastosowanego urządzenia w ocenie tego typu powierzchni posiadających złożoną, wielowarstwową strukturę.

EN

The paper presents the method based on white light interferometry - SBI (Scanning Broadband Interferometry). SBI uses a correlation algorithm to find the coherence peak and phase position of an interference pattern produced by a selectable bandwidth light source. It provides both high resolution and excellent sensitivity of the returning light. This method can be applied to ultra precision assessment of wide range of surfaces. Measurements of different types of materials, including glass, metal, photo resist, polymer, liquid inks are also possible to be taken. In experimental investigations there was assessed the surface topography of DOEs (Diffractive Optical Elements). A sample containing 8 diffractive optical elements generating optical patterns in the form of single line, multi-lines and crosshair was used for measurements. The surfaces of the all DOEs were measured by an advanced measurement system Talysurf CCI 6000 produced by Taylor Hobson. The measurement data recorded were analysed by Talymap Platinum software. The investigation results confirmed the usefulness both of the measuring method and the applied measurement system for assessment of this type of multilayered surfaces.

4

Zastosowanie optycznej tomografii niskokoherentnej do 2-wymiarowego obrazowania cienkich warstw polimerów

Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Maciejewski M., Hypszer R., Pluciński J., Kosmowski B.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2006

|

Vol. 47, nr 5

67-68

PL

Przedstawiono zasadę działania i podstawowe właściwości systemu OCT (Optical Coherence Tomography). Na przykładzie folii polietylenowej przedyskutowano możliwości wykorzystania systemu do badanie wewnętrznej struktury warstwowej obiektów niebiologicznych. Omówiono wyniki przeprowadzonych badań nad warstwowymi materiałami przeźroczystymi.

EN

An Optical Low-Coherence Tomography (OCT) is a novel optical measurement technique, which enables non-destructive and non-contact investigation of multilayer structures. In this paper the authors present a laboratory OCT system for surface and subsurface investigation of scattering technical objects such as polymer layers. Preliminary test results on subsurface technical objects investigation using OCT system have been presented and discussed.