Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  warstwa aluminidkowa Al-Ni
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W artykule omówiono procesy nakładania aluminidkowych warstw typu: NiAl + Ni3Al wytworzonych metodą CVD w procesie nisko- i wysokoaktywnym na podłożu nadstopu niklu Inconel 713C. Grubość warstw, ich mikrostrukturę oraz mikrostrukturę materiału podłoża określono na przekroju poprzecznym za pomocą mikroskopu świetlnego oraz skaningowego elektronowego (SEM). Skład chemiczny warstwy oraz materiału podłoża określono również na przekroju poprzecznym za pomocą spektrometru EDS. Skład fazowy zbadano metodą rentgenowskiej analizy fazowej (XRD). Topografia powierzchni została scharakteryzowana za pomocą profilometru skaningowego firmy VEECO. Udział objętościowy oraz kształt fazy y' określono za pomocą metod analizy obrazu w programie ImageProAnalyzer. Twardość materiału bazowego oraz otrzymanych warstw wierzchnich określono za pomocą makro- i mikrotwardościomierza na przekroju poprzecznym. Otrzymane wyniki wskazały na zróżnicowaną grubość warstw otrzymanych w procesie nisko- i wysokoaktywnym. Stwierdzono, że proces kształtowania, aluminidkowej warstwy NiAl może mieć wpływ na morfologię koherentnej fazy y' a to z kolei może się przekładać na właściwości mechaniczne oraz wytrzymałość na pełzanie w wysokiej temperaturze.
EN
Aluminide surface layers on Inconel 713C Ni-base superalloy obtained by low- and high-activity CVD processes were described. The thickness of the layers and their microstructure and of base material were studied on crosssections using light and scanning electron (SEM) microscopes. Analyses of chemical composition were carried out on the cross-sections by EDS spectrometer and the phase content was investigated by X-ray diffraction (XRD). The surface topography was characterized using VEECO scanning profile meter. The volume fraction of y' precipitates has been calculated and their shape was described using processing software. The hardness and microhardness by the Vickers method was determined for base material and on cross-sections of the layers. The results obtained showed the difference in the thickness of layers obtained in low- and high-activity CVD processes. The X-ray diffraction analyses showed that the basic phase component of the layers is NiAl intermetallic phase. It has been also found that the CVD method used here allows controlling morphology and average size of !? precipitates in aluminide surface layers on Inconel 713 and in turn to tune-up their mechanical properties and creep resistance.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.